CT圖像生成方法、裝置、CT系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)和程序產(chǎn)品制造方法及圖紙

本申請(qǐng)涉及一種CT圖像生成方法、裝置、CT系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)和程序產(chǎn)品。所述方法包括：獲取CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)；確定CT探測(cè)器的瑕疵像素；若瑕疵像素位于CT探測(cè)器的瑕疵排中，則利用瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)。采用本方法能夠準(zhǔn)確校正探測(cè)器中的瑕疵像素。探測(cè)器中的瑕疵像素。探測(cè)器中的瑕疵像素。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
CT圖像生成方法、裝置、CT系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)和程序產(chǎn)品


[0001]本申請(qǐng)涉及圖像處理
，特別是涉及一種CT圖像生成方法、裝置、CT系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)和程序產(chǎn)品。

技術(shù)介紹

[0002]由于半導(dǎo)體探測(cè)器的加工誤差，半導(dǎo)體探測(cè)器的像素陣列中的部分像素單元存在響應(yīng)異常的問(wèn)題，從而導(dǎo)致像素陣列出現(xiàn)瑕疵像素。
[0003]而像素陣列中的瑕疵像素會(huì)導(dǎo)致重建后的醫(yī)療影像的質(zhì)量較差，進(jìn)而影響醫(yī)生的診斷結(jié)果。
[0004]因此，如何對(duì)瑕疵像素進(jìn)行校正成為當(dāng)前亟待解決的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

[0005]本申請(qǐng)?zhí)峁┮环NCT圖像生成方法、裝置、CT系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)和程序產(chǎn)品，能夠準(zhǔn)確校正探測(cè)器中的瑕疵像素。
[0006]第一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环NCT圖像生成方法。該方法包括：
[0007]獲取CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)；
[0008]確定CT探測(cè)器的瑕疵像素；
[0009]若瑕疵像素位于CT探測(cè)器的瑕疵排中，則利用瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)。
[0010]在其中一個(gè)實(shí)施例中，利用瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)，包括：對(duì)鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行曲線擬合處理，得到函數(shù)模型；將瑕疵排像素索引信息輸入至函數(shù)模型中，得到校正數(shù)據(jù)。
[0011]在其中一個(gè)實(shí)施例中，CT圖像生成方法還包括：若瑕疵像素未位于瑕疵排中，則利用瑕疵像素所在像素排中，除瑕疵像素外的像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵像素的校正探測(cè)數(shù)據(jù)；根據(jù)校正探測(cè)數(shù)據(jù)生成校正數(shù)據(jù)。
[0012]在其中一個(gè)實(shí)施例中，在利用瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到校正數(shù)據(jù)之前，CT圖像生成方法還包括：根據(jù)圖像重建算法和各像素排的原始探測(cè)數(shù)據(jù)，生成各像素排的斷層圖像數(shù)據(jù)。
[0013]在其中一個(gè)實(shí)施例中，CT圖像生成方法還包括：確定瑕疵像素所在像素排中的瑕疵像素?cái)?shù)量；若瑕疵像素?cái)?shù)量大于預(yù)設(shè)閾值，則確定瑕疵像素位于CT探測(cè)器中的瑕疵排；若瑕疵像素?cái)?shù)量小于或等于預(yù)設(shè)閾值，則確定瑕疵像素未位于CT探測(cè)器中的瑕疵排。
[0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中，確定CT探測(cè)器的瑕疵像素，包括以下至少一項(xiàng)：獲取統(tǒng)計(jì)邊界，將位于統(tǒng)計(jì)邊界之外的像素確定為瑕疵像素；將原始探測(cè)數(shù)據(jù)位于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)范圍外的像素確定為瑕疵像素。
[0015]在其中一個(gè)實(shí)施例中，獲取CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)，包括：控制CT探測(cè)器進(jìn)行數(shù)據(jù)探測(cè)，得到CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)。
[0016]第二方面，本申請(qǐng)還提供了一種CT圖像生成裝置。該裝置包括：
[0017]獲取模塊，用于獲取CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)和原始圖像數(shù)據(jù)；
[0018]瑕疵像素確定模塊，用于確定CT探測(cè)器的瑕疵像素；
[0019]圖像域校正模塊，用于若瑕疵像素位于CT探測(cè)器的瑕疵排中，則利用瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)。
[0020]第三方面，本申請(qǐng)還提供了一種CT系統(tǒng)，該CT系統(tǒng)用于生成CT圖像，CT圖像采用如上述第一方面的方法得到。
[0021]第四方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備。該計(jì)算機(jī)設(shè)備包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：
[0022]獲取CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)；
[0023]確定CT探測(cè)器的瑕疵像素；
[0024]若瑕疵像素位于CT探測(cè)器的瑕疵排中，則利用瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)。
[0025]第五方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：
[0026]獲取CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)；
[0027]確定CT探測(cè)器的瑕疵像素；
[0028]若瑕疵像素位于CT探測(cè)器的瑕疵排中，則利用瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)。
[0029]第六方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：
[0030]獲取CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)；
[0031]確定CT探測(cè)器的瑕疵像素；
[0032]若瑕疵像素位于CT探測(cè)器的瑕疵排中，則利用瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)。
[0033]本申請(qǐng)?zhí)峁┮环NCT圖像生成方法、裝置、CT系統(tǒng)、設(shè)備、介質(zhì)和程序產(chǎn)品，該CT圖像生成方法可以基于CT探測(cè)器中的各像素原始探測(cè)數(shù)據(jù)確定像素陣列中的瑕疵像素，然后將瑕疵像素較多的像素排確定為瑕疵排，接著基于像素陣列進(jìn)行圖像重建，得到各像素排對(duì)應(yīng)的CT圖像，并基于鄰近排對(duì)應(yīng)的CT圖像中的像素對(duì)瑕疵排對(duì)應(yīng)的CT圖像中的像素進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的方法可以基于鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)瑕疵排像素對(duì)應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，避免使用同排占比較少的正常像素進(jìn)行校正處理得到的校正結(jié)果準(zhǔn)確度較低的問(wèn)題，且本申請(qǐng)?jiān)跀?shù)據(jù)更多的圖像域?qū)ο袼剡M(jìn)行校正處理，可以實(shí)現(xiàn)更為精準(zhǔn)的校正，進(jìn)一步提高了校正結(jié)果的準(zhǔn)確度。
附圖說(shuō)明
[0034]圖1為一個(gè)實(shí)施例中CT圖像生成方法的應(yīng)用環(huán)境圖；
[0035]圖2為一個(gè)實(shí)施例中CT圖像生成方法的流程示意圖；
[0036]圖3為一個(gè)實(shí)施例中像素陣列示意圖；
[0037]圖4為一個(gè)實(shí)施例中另一像素陣列示意圖；
[0038]圖5為一個(gè)實(shí)施例中另一像素陣列示意圖；
[0039]圖6為一個(gè)實(shí)施例中CT圖像生成方法的另一流程示意圖；
[0040]圖7為一個(gè)實(shí)施例中CT圖像生成方法的另一流程示意圖；
[0041]圖8為一個(gè)實(shí)施例中CT圖像示意圖；
[0042]圖9為一個(gè)實(shí)施例中CT圖像生成方法的另一流程示意圖；
[0043]圖10為一個(gè)實(shí)施例中CT圖像生成方法的另一流程示意圖；
[0044]圖11為一個(gè)實(shí)施例中CT圖像生成裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0045]圖12為一個(gè)實(shí)施例中計(jì)算機(jī)設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖。
具體實(shí)施方式
[0046]為了使本申請(qǐng)的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本申請(qǐng)進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本申請(qǐng)，并不用于限定本申請(qǐng)。
[0047]本申請(qǐng)實(shí)施例提供的CT圖像生成方法，可以應(yīng)用于如圖1所示的應(yīng)用環(huán)境中。其中，CT探測(cè)器102通過(guò)網(wǎng)絡(luò)與終端104進(jìn)行通信。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)可以存儲(chǔ)終端104需要處理的數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng)可以集本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

【技術(shù)特征摘要】
1.一種CT圖像生成方法，其特征在于，所述方法包括：獲取CT探測(cè)器中各像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)；確定所述CT探測(cè)器的瑕疵像素；若所述瑕疵像素位于所述CT探測(cè)器的瑕疵排中，則利用所述瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)所述瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)所述瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到瑕疵排像素的校正數(shù)據(jù)，包括：對(duì)所述鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行曲線擬合處理，得到函數(shù)模型；將所述瑕疵排像素的索引信息輸入至所述函數(shù)模型中，得到所述校正數(shù)據(jù)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：若所述瑕疵像素未位于所述瑕疵排中，則利用所述瑕疵像素所在像素排中，除所述瑕疵像素外的像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)所述瑕疵像素的原始探測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到所述瑕疵像素的校正探測(cè)數(shù)據(jù)；根據(jù)所述校正探測(cè)數(shù)據(jù)生成所述校正數(shù)據(jù)。4.根據(jù)權(quán)利要求1
?
3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在所述利用所述瑕疵排的鄰近排像素的圖像數(shù)據(jù)對(duì)所述瑕疵排像素的圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行校正處理，得到校正數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括：根據(jù)圖像重建算法和各所述像素排的原始探測(cè)數(shù)據(jù)，生成各所述像素排的斷層圖像數(shù)據(jù)。5.根據(jù)權(quán)利要求1
?
3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：確定所述瑕疵像素所在像素排中的瑕疵像素?cái)?shù)量；若所述瑕疵像素?cái)?shù)量大于預(yù)設(shè)閾值，則確定所述瑕疵像素位于所述CT探測(cè)器中的瑕疵排；若所述瑕疵像素?cái)?shù)量小于或等于所...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：楊維，李兵，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：武漢聯(lián)影生命科學(xué)儀器有限公司，
類(lèi)型：發(fā)明
國(guó)別省市：