本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種光學(xué)鏡片缺陷檢測方法、裝置及設(shè)備，涉及光學(xué)鏡片檢測技術(shù)領(lǐng)域，該方法包括：獲取待檢測光學(xué)鏡片的第一圖像；對待檢測光學(xué)鏡片進(jìn)行清潔處理；獲取清潔后的待檢測光學(xué)鏡片的第二圖像；對所述第一圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第一圖像對應(yīng)的第一分割圖像，所述第一分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第一特征子圖；對所述第二圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第二圖像對應(yīng)的第二分割圖像，所述第二分割圖像包含待檢測光學(xué)鏡片的第二特征子圖；求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學(xué)鏡片的缺陷特征圖；該方法能夠排除檢測光學(xué)鏡片缺陷過程中灰塵的影響，從而提高光學(xué)鏡片缺陷檢測的精度。的精度。的精度。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種光學(xué)鏡片缺陷檢測方法、裝置及設(shè)備
[0001]本專利技術(shù)涉及光學(xué)鏡片檢測
，特別涉及一種光學(xué)鏡片缺陷檢測方法、裝置及設(shè)備。
技術(shù)介紹
[0002]光學(xué)鏡片即是利用光學(xué)玻璃或者光學(xué)樹脂制造的鏡片，被廣泛應(yīng)用于光學(xué)設(shè)備中，例如，條形碼掃描儀透鏡、平面光學(xué)元件和專業(yè)成像光學(xué)透鏡等，光學(xué)鏡片上的缺陷直接影響設(shè)備的性能。
[0003]目前，光學(xué)鏡片缺陷檢測的常規(guī)方法為：將鏡片置于同軸光源下，利用工業(yè)相機(jī)對待檢測鏡片進(jìn)行拍照，然后對拍攝的圖片進(jìn)行分析處理，得到待檢測鏡片的缺陷信息；通過此方法檢測光學(xué)鏡片的缺陷信息，在對待檢測鏡片拍照的過程中，鏡片表面會附著灰塵，在對拍攝的圖片分析處理過程中，會把灰塵信息判定為缺陷信息，導(dǎo)致光學(xué)鏡片缺陷檢測結(jié)果不準(zhǔn)確。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
[0004]基于此，有必要針對上述技術(shù)問題，提供一種光學(xué)鏡片缺陷檢測方法、裝置及設(shè)備，以解決現(xiàn)有的光學(xué)鏡片缺陷檢測技術(shù)，在對拍攝的圖片分析處理過程中，會把灰塵信息判定為缺陷信息，導(dǎo)致光學(xué)鏡片缺陷檢測結(jié)果不準(zhǔn)確問題。
[0005]第一方面，本專利技術(shù)實(shí)施例提供一種光學(xué)鏡片缺陷檢測方法，包括：
[0006]獲取待檢測光學(xué)鏡片的第一圖像；
[0007]對所述待檢測光學(xué)鏡片進(jìn)行清潔處理；
[0008]獲取清潔后的待檢測光學(xué)鏡片的第二圖像；
[0009]對所述第一圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第一圖像對應(yīng)的第一分割圖像，所述第一分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第一特征子圖；
[0010]對所述第二圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第二圖像對應(yīng)的第二分割圖像，所述第二分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第二特征子圖；
[0011]求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學(xué)鏡片的缺陷特征圖。
[0012]上述方案具有以下有益效果：
[0013]本專利技術(shù)的光學(xué)鏡片缺陷檢測方法，首先對待檢測光學(xué)鏡片拍攝第一圖像，然后對待檢測光學(xué)鏡片進(jìn)行清潔，對清潔后的待檢測光學(xué)鏡片拍攝第二圖像，然后求取第一圖像和第二圖像中的特征交集圖，即得到待檢測光學(xué)鏡片的缺陷特征子圖；該方法能夠排除檢測光學(xué)鏡片缺陷過程中灰塵的影響，從而提高光學(xué)鏡片缺陷檢測的精度。
[0014]可選的，對所述第一圖像進(jìn)行分割處理包括：
[0015]去除所述第一圖像中的所述待檢測光學(xué)鏡片圖像以外的圖像區(qū)域，保留所述待檢測光學(xué)鏡片的圖像，得到第一預(yù)處理圖像；
[0016]對所述第一預(yù)處理圖像進(jìn)行模糊操作，去除所述第一預(yù)處理圖像的噪聲；
[0017]將所述第一預(yù)處理圖像與模糊后的第一預(yù)處理圖像進(jìn)行比較，去除所述第一預(yù)處理圖像中灰度值小于模糊后的第一預(yù)處理圖像中灰度值的像素點(diǎn)，保留所述第一預(yù)處理圖像中灰度值大于模糊后的第一預(yù)處理圖像中灰度值的像素點(diǎn)，得到第一初始分割圖像。
[0018]可選的，對所述第一圖像進(jìn)行分割處理還包括：
[0019]計(jì)算預(yù)設(shè)卷積核尺度范圍內(nèi)的灰度均值，將所述灰度均值作為閾值，將所述第一初始分割圖像中灰度值大于所述閾值的像素點(diǎn)的灰度值置為第一設(shè)定值，將灰度值小于所述閾值的像素點(diǎn)的灰度值置為第二設(shè)定值；
[0020]去除灰度值為所述第二設(shè)定值的像素點(diǎn)，保留灰度值為所述第一設(shè)定值的像素點(diǎn)，得到所述第一特征子圖對應(yīng)像素點(diǎn)，構(gòu)成所述第一分割圖。
[0021]可選的，對所述第二圖像進(jìn)行分割處理包括：
[0022]去除所述第二圖像中的所述待檢測光學(xué)鏡片圖像以外的圖像區(qū)域，保留所述待檢測光學(xué)鏡片圖像，得到第二預(yù)處理圖像；
[0023]對所述第二預(yù)處理圖像進(jìn)行模糊操作，去除所述第二預(yù)處理圖像的噪聲；
[0024]將所述第二預(yù)處理圖像與模糊后的第二預(yù)處理圖像進(jìn)行比較，去除所述第二預(yù)處理圖像中灰度值小于模糊后的第二預(yù)處理圖像中灰度值的像素點(diǎn)，保留所述第二預(yù)處理圖像中灰度值大于模糊后的第二預(yù)處理圖像中灰度值的像素點(diǎn)，得到第二初始分割圖像。
[0025]可選的，對所述第二圖像進(jìn)行分割處理還包括：
[0026]將所述第二初始分割圖像中灰度值大于所述閾值的像素點(diǎn)的灰度值置為所述第一設(shè)定值，將灰度值小于所述閾值的像素點(diǎn)的灰度值置為所述第二設(shè)定值；
[0027]去除灰度值為所述第二設(shè)定值的像素點(diǎn)，保留灰度值為所述第一設(shè)定值的像素點(diǎn)，得到所述第二特征子圖對應(yīng)的像素點(diǎn)，構(gòu)成所述第二分割圖。
[0028]可選的，求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學(xué)鏡片的缺陷特征圖，包括：
[0029]建立所述第一分割圖像對應(yīng)的第一坐標(biāo)系和所述第二分割圖像對應(yīng)的第二坐標(biāo)系；
[0030]根據(jù)所述第一分割圖像中的所述第一特征子圖對應(yīng)的像素點(diǎn)在所述第一坐標(biāo)系中的坐標(biāo)位置，以及所述第二分割圖像中的所述第二特征子圖對應(yīng)的像素點(diǎn)在所述第二坐標(biāo)系中的坐標(biāo)位置，求取所述第一分割圖像和所述第二分割圖像的像素點(diǎn)交集，得到所述缺陷特征子圖。
[0031]第二方面，本專利技術(shù)實(shí)施例提供一種光學(xué)鏡片缺陷檢測裝置，包括：
[0032]圖像獲取模塊，用于獲取待檢測光學(xué)鏡片的第一圖像，以及清潔后的待檢測光學(xué)鏡片的第二圖像；
[0033]第一圖像分割模塊，用于對所述第一圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第一圖像對應(yīng)的第一分割圖像，所述第一分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第一特征子圖；
[0034]第二圖像分割模塊，用于對所述第二圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第二圖像對應(yīng)的第二分割圖像，所述第二分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第二特征子圖；
[0035]特征交集圖求取模塊，用于求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學(xué)鏡片的缺陷特征圖。
[0036]第三方面，本專利技術(shù)實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包括處理器、存儲器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如第一方面任一項(xiàng)所述的光學(xué)鏡片缺陷檢測方法。
[0037]第四方面，本專利技術(shù)實(shí)施例提供一種光學(xué)鏡片缺陷檢測設(shè)備，包括：
[0038]第一工業(yè)相機(jī)、第二工業(yè)相機(jī)和工控機(jī)，其中，所述第一工業(yè)相機(jī)的通訊端連接所述工控機(jī)的第一通訊端，所述第二工業(yè)相機(jī)的通訊端連接所述工控機(jī)的第二通訊端；
[0039]所述第一工業(yè)相機(jī)用于獲取待檢測光學(xué)鏡片的第一圖像，并將所述第一圖像發(fā)送至所述工控機(jī)；所述第二工業(yè)相機(jī)用于獲取清潔后的待檢測光學(xué)鏡片的第二圖像，并將所述第二圖像發(fā)送至所述工控機(jī)；
[0040]所述工控機(jī)用于對所述第一圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第一圖像對應(yīng)的第一分割圖像，所述第一分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第一特征子圖；對所述第二圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第二圖像對應(yīng)的第二分割圖像，所述第二分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第二特征子圖；求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學(xué)鏡片的缺陷特征圖。
[0041]上述方案具有以下有益效果：
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【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
【技術(shù)特征摘要】
1.一種光學(xué)鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，包括：獲取待檢測光學(xué)鏡片的第一圖像；對所述待檢測光學(xué)鏡片進(jìn)行清潔處理；獲取清潔后的待檢測光學(xué)鏡片的第二圖像；對所述第一圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第一圖像對應(yīng)的第一分割圖像，所述第一分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第一特征子圖；對所述第二圖像進(jìn)行分割處理，得到所述第二圖像對應(yīng)的第二分割圖像，所述第二分割圖像包含所述待檢測光學(xué)鏡片的第二特征子圖；求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學(xué)鏡片的缺陷特征圖。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，對所述第一圖像進(jìn)行分割處理包括：去除所述第一圖像中的所述待檢測光學(xué)鏡片圖像以外的圖像區(qū)域，保留所述待檢測光學(xué)鏡片的圖像，得到第一預(yù)處理圖像；對所述第一預(yù)處理圖像進(jìn)行模糊操作，去除所述第一預(yù)處理圖像的噪聲；將所述第一預(yù)處理圖像與模糊后的第一預(yù)處理圖像進(jìn)行比較，去除所述第一預(yù)處理圖像中灰度值小于模糊后的第一預(yù)處理圖像中灰度值的像素點(diǎn)，保留所述第一預(yù)處理圖像中灰度值大于模糊后的第一預(yù)處理圖像中灰度值的像素點(diǎn)，得到第一初始分割圖像。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光學(xué)鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，對所述第一圖像進(jìn)行分割處理還包括：計(jì)算預(yù)設(shè)卷積核尺度范圍內(nèi)的灰度均值，將所述灰度均值作為閾值，將所述第一初始分割圖像中灰度值大于所述閾值的像素點(diǎn)的灰度值置為第一設(shè)定值，將灰度值小于所述閾值的像素點(diǎn)的灰度值置為第二設(shè)定值；去除灰度值為所述第二設(shè)定值的像素點(diǎn)，保留灰度值為所述第一設(shè)定值的像素點(diǎn)，得到所述第一特征子圖對應(yīng)像素點(diǎn)，得到所述第一分割圖。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光學(xué)鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，對所述第二圖像進(jìn)行分割處理包括：去除所述第二圖像中的所述待檢測光學(xué)鏡片圖像以外的圖像區(qū)域，保留所述待檢測光學(xué)鏡片圖像，得到第二預(yù)處理圖像；對所述第二預(yù)處理圖像進(jìn)行模糊操作，去除所述第二預(yù)處理圖像的噪聲；將所述第二預(yù)處理圖像與模糊后的第二預(yù)處理圖像進(jìn)行比較，去除所述第二預(yù)處理圖像中灰度值小于模糊后的第二預(yù)處理圖像中灰度值的像素點(diǎn)，保留所述第二預(yù)處理圖像中灰度值大于模糊后的第二預(yù)處理圖像中灰度值的像素點(diǎn)，得到第二初始分割圖像。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光學(xué)鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，對所述第二圖像進(jìn)行分割處理還包括：將所述第二初始分割圖像中灰度值大于所述閾值的像素點(diǎn)的灰度值置為所述第一設(shè)定值，將灰度值小于所述閾值的像素點(diǎn)的灰度值置為所述第二設(shè)定值；去除灰度值為所述第二設(shè)定值的像素點(diǎn)，保留灰度值為所述第一設(shè)定值的像素點(diǎn)，得到所述第二特征子圖對應(yīng)的像素點(diǎn)，得到所述第二分割圖。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)鏡片缺陷檢測方法，其特征在于，求取所述第一特征子圖和所述第二特征子圖的特征交集圖，得到所述待檢測光學(xué)鏡片的缺陷特...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：賀小華，樊為民，邱興德，高錦龍，
申請(專利權(quán))人：深圳市壹倍科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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