本實用新型專利技術提供一種左右崩邊檢測裝置及硅片檢測分選設備，其中，左右崩邊檢測裝置包括：左檢測機構、右檢測機構以及滑軌；左檢測機構與右檢測機構設置于滑軌上，且兩個檢測機構相向設置，任一檢測機構包括：檢測相機、點激光、光源以及調節組件；光源能夠相對第一固定板進行調節；點激光和檢測相機能夠分別相對第二固定板進行調節；調節組件包括：固定座和調節件。本實用新型專利技術通過左檢測機構、右檢測機構對輸送的硅片進行崩邊檢測，有利于分選出不符合要求的硅片，提高了硅片的出廠良率。同時，兩個檢測機構能夠沿所在滑軌進行位置調節，且各檢測機構中的檢測相機、點激光、光源也能夠獨立調節，有利于實際運行過程中的調試，提高了檢測的效率。檢測的效率。檢測的效率。
【技術實現步驟摘要】
左右崩邊檢測裝置及硅片檢測分選設備
[0001]本技術涉及硅片檢測分選
，尤其涉及一種左右崩邊檢測裝置及硅片檢測分選設備。
技術介紹
[0002]硅片作為重要的工業原材料，被廣泛用于太陽能電池、電路板等產品的生產制造中。因此，在硅片生產出廠之前需要對其質量進行嚴格的把控，以保證由硅片制造的太陽能電池、電路板等產品的質量。
[0003]目前，在硅片的檢測分選過程中，需要對通過流線輸送的硅片的左右邊緣進行檢視，以判斷硅片的邊緣是否存在破損的問題。因此，針對如何對硅片的邊緣進行檢視的問題，有必要提出進一步地解決方案。
技術實現思路
[0004]本技術旨在提供一種左右崩邊檢測裝置及硅片檢測分選設備，以克服現有技術中存在的不足。
[0005]為解決上述技術問題，本技術的技術方案是：
[0006]一種左右崩邊檢測裝置，其包括：左檢測機構、右檢測機構以及滑軌；
[0007]所述左檢測機構與右檢測機構設置于所述滑軌上，且兩個檢測機構相向設置，任一檢測機構包括：檢測相機、點激光、光源以及調節組件；
[0008]所述光源安裝于所述第一固定板上，并面向檢測工位設置，所述光源能夠相對所述第一固定板進行調節；
[0009]所述點激光和檢測相機安裝于第二固定板上，并面向所述檢測工位設置，所述點激光和檢測相機能夠分別相對所述第二固定板進行調節；
[0010]所述調節組件包括：固定座和調節件，所述調節件安裝于所述固定座上，并能夠帶動所在的檢測機構沿所述滑軌進行移動。
[0011]作為本技術的左右崩邊檢測裝置的改進，所述左檢測機構與右檢測機構相對錯位設置。
[0012]作為本技術的左右崩邊檢測裝置的改進，所述第一固定板豎直設置，所述光源為兩組，兩組光源上下相對地安裝于所述第一固定板上，兩組光源之間形成所述檢測工位。
[0013]作為本技術的左右崩邊檢測裝置的改進，所述光源朝向所述檢測工位的光路上還設置有能夠進行角度調節的棱鏡。
[0014]作為本技術的左右崩邊檢測裝置的改進，所述光源樞轉安裝于所述第一固定板上，所述第一固定板上開設有適于所述光源角度調整的第一調節槽。
[0015]作為本技術的左右崩邊檢測裝置的改進，所述點激光所在的安裝座樞轉安裝于所述第二固定板上，所述安裝座上開設有適于所述點激光角度調節的第二調節槽，所述
第二固定板上設置有伸入所述第二調節槽中的凸起。
[0016]作為本技術的左右崩邊檢測裝置的改進，所述檢測相機所在的安裝座上開設有滑槽，所述第二固定板上開設有適于所述檢測相機滑動調節的鎖孔。
[0017]作為本技術的左右崩邊檢測裝置的改進，所述固定座固定于所述滑軌所在的底座上，所述調節件為一螺桿，所述螺桿一端螺接于所述固定座上，另一端螺接于所在檢測機構的底部凸塊上。
[0018]為解決上述技術問題，本技術的技術方案是：
[0019]一種硅片檢測分選設備，其包括如上所述的左右崩邊檢測裝置。
[0020]與現有技術相比，本技術的有益效果是：本技術通過左檢測機構、右檢測機構對輸送的硅片進行崩邊檢測，有利于分選出不符合要求的硅片，提高了硅片的出廠良率。同時，兩個檢測機構能夠沿所在滑軌進行位置調節，且各檢測機構中的檢測相機、點激光、光源也能夠獨立調節，有利于實際運行過程中的調試，提高了檢測的效率。
附圖說明
[0021]為了更清楚地說明本技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本技術中記載的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
[0022]圖1為本技術左右崩邊檢測裝置一實施例的立體示意圖；
[0023]圖2為圖1中左右崩邊檢測裝置的俯視圖；
[0024]圖3為圖1中調節組件的立體放大示意圖。
具體實施方式
[0025]下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。
[0026]如圖1、2所示，本技術一實施例的左右崩邊檢測裝置包括：左檢測機構10、右檢測機構20以及滑軌30。
[0027]左檢測機構10、右檢測機構20用于對輸送的硅片進行崩邊檢測，進而分選出不符合要求的硅片，有利于提高硅片的出廠良率。
[0028]具體地，左檢測機構10與右檢測機構20設置于滑軌30上，且兩個檢測機構10、20相向設置。如此，當輸送而來的硅片經過左檢測機構10與右檢測機構20時，兩個檢測機構10、20可實現對硅片邊緣質量的檢視。一個實施方式中，左檢測機構10與右檢測機構20相對錯位設置，該設置方式可避免兩個檢測機構10、20相互干擾，影響檢測結果的精度。滑軌30的兩端安裝于工字型的底座40上。
[0029]任一檢測機構10、20包括：檢測相機11、點激光12、光源13以及調節組件14。
[0030]其中，檢測相機11、點激光12用于對硅片的邊緣進行檢視，光源13用于為檢測相機11、點激光12的檢視提供照明。檢測相機11、點激光12、光源13能夠進行獨立調節。
[0031]具體地，光源13安裝于第一固定板15上，并面向檢測工位設置，且光源13能夠相對第一固定板15進行調節。如此，可在實際的調試過程中，調整光源13的照射角度，以滿足硅片的檢視需求。
[0032]一個實施方式中，為了實現光源13的角度調節，光源13通過一轉軸樞轉安裝于第一固定板15上，且第一固定板15上開設有適于光源13角度調整的第一調節槽151。如此，光源13可沿著上述第一調節槽151進行樞轉運動，進而第一調節槽151為光源13的樞轉提供導向。
[0033]進一步地，第一固定板15豎直設置。當光源13為兩組時，兩組光源13上下相對地安裝于第一固定板15上，此時兩組光源13之間形成檢測工位。此外，光源13朝向檢測工位的光路上還設置有能夠進行角度調節的棱鏡16，如此以便于搭建檢測光路。
[0034]點激光12和檢測相機11安裝于第二固定板17上，并面向檢測工位設置，且點激光12和檢測相機11能夠分別相對第二固定板17進行調節。如此，可在實際的調試過程中，調整點激光12和檢測相機11的照射角度和位置，以滿足硅片的檢視需求。
[0035]一個實施方式中，為了實現點激光12的角度調節，點激光12所在的安裝座121樞轉安裝于第二固定板17上，安裝座121上開設有適于點激光12角度調節的第二調節槽120，第二固定板17上設置有伸入第二調節槽120中的凸起。如此，安裝座121進行樞轉時，其上的第二調節本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
1.一種左右崩邊檢測裝置，其特征在于，所述左右崩邊檢測裝置包括：左檢測機構、右檢測機構以及滑軌；所述左檢測機構與右檢測機構設置于所述滑軌上，且兩個檢測機構相向設置，任一檢測機構包括：檢測相機、點激光、光源以及調節組件；所述光源安裝于第一固定板上，并面向檢測工位設置，所述光源能夠相對所述第一固定板進行調節；所述點激光和檢測相機安裝于第二固定板上，并面向所述檢測工位設置，所述點激光和檢測相機能夠分別相對所述第二固定板進行調節；所述調節組件包括：固定座和調節件，所述調節件安裝于所述固定座上，并能夠帶動所在的檢測機構沿所述滑軌進行移動。2.根據權利要求1所述的左右崩邊檢測裝置，其特征在于，所述左檢測機構與右檢測機構相對錯位設置。3.根據權利要求1所述的左右崩邊檢測裝置，其特征在于，所述第一固定板豎直設置，所述光源為兩組，兩組光源上下相對地安裝于所述第一固定板上，兩組光源之間形成所述檢測工位。4.根據權利要求1或3所述的左右崩邊檢測裝置，其特征在于，所述光源...
【專利技術屬性】
技術研發人員：孫靖，曹葵康，顧燁，孫俊，蘇傲，錢春輝，胡輝來，程璧，張體瑞，溫延培，
申請(專利權)人：蘇州天準科技股份有限公司，
類型：新型
國別省市：
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