鍵盤裝置及其按鍵狀態(tài)的檢測方法制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)提供一種鍵盤裝置及其按鍵狀態(tài)的檢測方法。此檢測方法包括以下步驟：將鍵盤裝置的按鍵模塊的第一線驅(qū)動至第一電位，且檢測對應(yīng)于按鍵模塊的每一條第二線的任一按鍵是否有被按壓以作為第一檢測結(jié)果。將第二線驅(qū)動至第一電位，且檢測對應(yīng)于每一條第一線的按鍵是否有被按壓以作為第二檢測結(jié)果。依序地選取其中一條第一線，并通過第二線來對所選取的第一線的每一按鍵的被按壓狀態(tài)進行掃描，從而產(chǎn)生粗略掃描結(jié)果。根據(jù)第一檢測結(jié)果、第二檢測結(jié)果與粗略掃描結(jié)果取得每一按鍵的被按壓狀態(tài)以及決定每一按鍵的被按壓狀態(tài)是否被誤判。本發(fā)明專利技術(shù)可提升鍵盤裝置的掃描速度，且可精確地判斷每一個按鍵是否被按壓。

Keyboard device and method for detecting key state thereof

The invention provides a keyboard device and a method for detecting the key state of the keyboard device. The detection method comprises the following steps: the first key module keyboard device driver to the first potential, and the detection corresponding to the key module of each one second if there is any key is pressed as a first test results. A second line is driven to a first potential, and a keystroke corresponding to each of the first lines is detected to be pressed to act as a second detection result. Sequentially select one of the first lines and scan the pressed state of each key of the selected first line by a second line to produce a rough scan result. According to the first detection result, the second detection result and the rough scanning result, the pressing state of each keystroke is obtained, and whether the pressing state determining whether each keystroke is wrongly determined is wrong. The invention can improve the scanning speed of the keyboard device, and can accurately judge whether each keystroke is pressed.

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
鍵盤裝置及其按鍵狀態(tài)的檢測方法
本專利技術(shù)涉及一種鍵盤裝置，尤其涉及一種可避免按鍵誤判情況的鍵盤裝置及其按鍵狀態(tài)的檢測方法。
技術(shù)介紹
請參照圖1，圖1顯示已知的鍵盤裝置100。鍵盤裝置100中可包括按鍵SW1～SW4以及比較器10、比較器20。按鍵SW1耦接在驅(qū)動線DL1與感測線SL1之間；按鍵SW2耦接在驅(qū)動線DL1與感測線SL2之間；按鍵SW3耦接在驅(qū)動線DL2與感測線SL1之間；按鍵SW4耦接在驅(qū)動線DL2與感測線SL2之間。比較器10耦接到感測線SL1以接收電壓信號SV1，并將電壓信號SV1與參考電壓Vref進行比較。同樣地，比較器20耦接到感測線SL2以接收電壓信號SV2，并將電壓信號SV2與參考電壓Vref進行比較。在進行按鍵SW1～SW4的被按壓狀態(tài)的檢測動作時，可將驅(qū)動線DL1驅(qū)動至一電壓位準(zhǔn)且將驅(qū)動線DL2驅(qū)動至另一電壓位準(zhǔn)。按鍵SW1及SW2可在驅(qū)動線DL1被驅(qū)動至上述電壓位準(zhǔn)時，依據(jù)其被按壓的狀態(tài)而分別通過感測線SL1、SL2傳送出相應(yīng)的電壓信號SV1、電壓信號SV2至比較器10、比較器20，再由比較器10、比較器20將電壓信號SV1、電壓信號SV2與參考電壓Vref進行比較以判斷出按鍵SW1、按鍵SW2的被按壓狀態(tài)。同樣地，按鍵SW3及SW4可在驅(qū)動線DL2被驅(qū)動至上述電壓位準(zhǔn)時，依據(jù)其被按壓的狀態(tài)而通過感測線SL1、感測線SL2傳送出相應(yīng)的電壓信號SV1、電壓信號SV2至比較器10、比較器20，再由比較器10、比較器20將電壓信號SV1、電壓信號SV2與參考電壓Vref進行比較以判斷出按鍵SW3、按鍵SW4的被按壓狀態(tài)。可以理解的是，當(dāng)鍵盤裝置中的按鍵的數(shù)量越多而導(dǎo)致鍵盤裝置中的感測線的數(shù)量增加時，將使耦接在感測線以進行電壓比較的比較器的數(shù)量也需越多。然而，上述這些比較器會因為制程上的偏置而產(chǎn)生誤差，可能會對按鍵的被按壓狀態(tài)產(chǎn)生誤判。因此，上述的每一個比較器都必須進行校正(calibration)以取得其偏差值(offset)，如此方能精準(zhǔn)地檢測出相對應(yīng)的按鍵的被按壓狀態(tài)。由于上述的按鍵狀態(tài)的檢測方式必須儲存每一個比較器的偏差值，故會耗費較多的電路資源。另一方面，可以只采用一個校正精準(zhǔn)的比較器，以使此一校正精準(zhǔn)的比較器可依序地對多條感測線中的其中一條的電壓信號進行比較。然而，如此的按鍵狀態(tài)的檢測方式無法同時并行地對所有的感測線的電壓信號進行比較，故檢測速度較慢。
技術(shù)實現(xiàn)思路
有鑒于此，本專利技術(shù)提供一種鍵盤裝置及其按鍵狀態(tài)的檢測方法，可精準(zhǔn)地且快速地判斷出按鍵的被按壓狀態(tài)。本專利技術(shù)的鍵盤裝置包括按鍵模塊以及控制器。按鍵模塊包括多個按鍵、至少一條第一線以及至少一條第二線，其中至少一條第一線與至少一條第二線耦接到此些按鍵以驅(qū)動此些按鍵或感測此些按鍵?？刂破黢罱拥街辽僖粭l第一線與至少一條第二線?？刂破饔诘谝粰z測階段并行驅(qū)動至少一條第一線至同一電位，且并行檢測對應(yīng)于各至少一條第二線的至少一個按鍵是否有被按壓以作為第一檢測結(jié)果?？刂破饔诘谝粧呙桦A段依序地選取至少一條第一線的其中一個，并通過至少一條第二線來對所選取的第一線的每一個按鍵的被按壓狀態(tài)進行并行掃描，從而產(chǎn)生粗略掃描結(jié)果?？刂破饔诘谝粧呙桦A段根據(jù)第一檢測結(jié)果與粗略掃描結(jié)果而取得此些按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)以及決定此些按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的控制器于第二檢測階段并行驅(qū)動至少一條第二線至同一電位，且并行檢測對應(yīng)于各至少一條第一線的至少一個按鍵是否有被按壓以作為第二檢測結(jié)果?？刂破饔诘谝粧呙桦A段以第二檢測結(jié)果取代第一檢測結(jié)果，并根據(jù)第二檢測結(jié)果與粗略掃描結(jié)果而取得此些按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)以及決定此些按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的控制器于第二檢測階段并行驅(qū)動至少一條第二線至同一電位，且并行檢測對應(yīng)于各至少一條第一線的至少一個按鍵是否有被按壓以作為第二檢測結(jié)果。控制器于第一掃描階段根據(jù)第一檢測結(jié)果、第二檢測結(jié)果與粗略掃描結(jié)果而取得此些按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)以及決定此些按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的控制器在第一檢測階段根據(jù)第一檢測結(jié)果來判斷此些按鍵的至少一個是否被按壓，若判斷結(jié)果為是，控制器進入第二檢測階段。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的控制器于第二檢測階段根據(jù)第一檢測結(jié)果或第二檢測結(jié)果來判斷此些按鍵的至少一個是否被按壓，若判斷結(jié)果為是，控制器進入第一掃描階段。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的控制器于第一掃描階段還根據(jù)第二檢測結(jié)果與預(yù)設(shè)參數(shù)值來判斷此些按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判?？刂破鞲鶕?jù)第二檢測結(jié)果來計算計數(shù)值，當(dāng)計數(shù)值小于預(yù)設(shè)參數(shù)值，控制器判斷此些按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)未被誤判。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的控制器包括至少一第一接口電路、至少一第二接口電路、至少一第一比較電路、處理電路以及驅(qū)動電路。此至少一第一接口電路耦接到至少一條第一線以驅(qū)動或感測此至少一條第一線。此至少一第二接口電路耦接到至少一條第二線以驅(qū)動或感測此至少一條第二線。至少一第一比較電路耦接到至少一條第二線。處理電路耦接到至少一第一比較電路。驅(qū)動電路耦接到至少一第一接口電路、至少一第二接口電路與處理電路。驅(qū)動電路于第一檢測階段通過至少一第一接口電路并行驅(qū)動至少一條第一線至第一電位，至少一第二接口電路將至少一條第二線的電壓與參考電壓進行比較以產(chǎn)生第一檢測結(jié)果。驅(qū)動電路于第二檢測階段通過至少一第二接口電路并行驅(qū)動至少一條第二線至第一電位，至少一第一接口電路將至少一條第一線的電壓與參考電壓進行比較以產(chǎn)生第二檢測結(jié)果。處理電路于第一掃描階段依序地選取至少一條第一線的其中一個，處理電路通過驅(qū)動電路與至少一第一接口電路驅(qū)動所選取的至少一條第一線的其中該者至第一電位且驅(qū)動至少一條第一線的其余者至第二電位，至少一第一比較電路接收至少一條第二線的電壓以作為至少一第一掃描電壓，至少一第一比較電路將至少一第一掃描電壓與比較電壓進行比較以產(chǎn)生粗略掃描結(jié)果。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的控制器還包括第二比較電路。第二比較電路耦接到至少一條第二線與處理電路。當(dāng)處理電路于第一掃描階段判斷此些按鍵的至少一個的被按壓狀態(tài)被誤判時，處理電路進入第二掃描階段并通過至少一第一接口電路的一對應(yīng)者來將對應(yīng)于被誤判的按鍵的第一線驅(qū)動至第一電位且將至少一條第一線的其余者驅(qū)動至第二電位，處理電路啟動第二比較電路使第二比較電路接收被誤判的按鍵的第二線的電壓以作為第二掃描電壓，第二比較電路將第二掃描電壓與比較電壓進行比較以判斷被誤判的按鍵是否被按壓。至少一第一比較電路為不具備校正機制的比較電路，且第二比較電路為具備校正機制的比較電路或是具備校正機制的模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的至少一第一接口電路或至少一第二接口電路為至少一焊墊電路(padcircuit)或至少一通用輸入輸出(GeneralPurposeInputOutput，GPIO)電路。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的處理電路于第一掃描階段根據(jù)第二檢測結(jié)果而依序地選取至少一條第一線的其中該者，其中對應(yīng)于所選取的第一線上的至少一個按鍵有被按壓。在本專利技術(shù)的一實施例中，上述的各至少一條第二線的至少一個按鍵的被按壓狀態(tài)是否被誤判與各至少一條第二線本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種鍵盤裝置，其特征在于，包括：按鍵模塊，包括多個按鍵、至少一條第一線以及至少一條第二線，其中所述至少一條第一線與所述至少一條第二線耦接到所述多個按鍵以驅(qū)動所述多個按鍵或感測所述多個按鍵；以及控制器，耦接到所述至少一條第一線與所述至少一條第二線，其中：所述控制器于第一檢測階段并行驅(qū)動所述至少一條第一線至同一電位，且并行檢測對應(yīng)于各所述至少一條第二線的至少一個按鍵是否有被按壓以作為第一檢測結(jié)果；所述控制器于第一掃描階段依序地選取所述至少一條第一線的其中一個，并通過所述至少一條第二線來對所選取的所述第一線的每一個按鍵的被按壓狀態(tài)進行并行掃描，從而產(chǎn)生粗略掃描結(jié)果；以及所述控制器于所述第一掃描階段根據(jù)所述第一檢測結(jié)果與所述粗略掃描結(jié)果而取得所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)以及決定所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判。

【技術(shù)特征摘要】
2015.12.14 TW 1041419781.一種鍵盤裝置，其特征在于，包括：按鍵模塊，包括多個按鍵、至少一條第一線以及至少一條第二線，其中所述至少一條第一線與所述至少一條第二線耦接到所述多個按鍵以驅(qū)動所述多個按鍵或感測所述多個按鍵；以及控制器，耦接到所述至少一條第一線與所述至少一條第二線，其中：所述控制器于第一檢測階段并行驅(qū)動所述至少一條第一線至同一電位，且并行檢測對應(yīng)于各所述至少一條第二線的至少一個按鍵是否有被按壓以作為第一檢測結(jié)果；所述控制器于第一掃描階段依序地選取所述至少一條第一線的其中一個，并通過所述至少一條第二線來對所選取的所述第一線的每一個按鍵的被按壓狀態(tài)進行并行掃描，從而產(chǎn)生粗略掃描結(jié)果；以及所述控制器于所述第一掃描階段根據(jù)所述第一檢測結(jié)果與所述粗略掃描結(jié)果而取得所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)以及決定所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述控制器于第二檢測階段并行驅(qū)動所述至少一條第二線至同一電位，且并行檢測對應(yīng)于各所述至少一條第一線的至少一個按鍵是否有被按壓以作為第二檢測結(jié)果；以及所述控制器于所述第一掃描階段以所述第二檢測結(jié)果取代所述第一檢測結(jié)果，并根據(jù)所述第二檢測結(jié)果與所述粗略掃描結(jié)果而取得所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)以及決定所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述控制器于第二檢測階段并行驅(qū)動所述至少一條第二線至同一電位，且并行檢測對應(yīng)于各所述至少一條第一線的至少一個按鍵是否有被按壓以作為第二檢測結(jié)果；以及所述控制器于所述第一掃描階段根據(jù)所述第一檢測結(jié)果、所述第二檢測結(jié)果與所述粗略掃描結(jié)果而取得所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)以及決定所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述控制器在所述第一檢測階段根據(jù)所述第一檢測結(jié)果來判斷所述多個按鍵的至少一個是否被按壓，若判斷結(jié)果為是，所述控制器進入所述第二檢測階段。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述控制器于所述第二檢測階段根據(jù)所述第一檢測結(jié)果或所述第二檢測結(jié)果來判斷所述多個按鍵的至少一個是否被按壓，若判斷結(jié)果為是，所述控制器進入所述第一掃描階段。6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述控制器于所述第一掃描階段還根據(jù)所述第二檢測結(jié)果與預(yù)設(shè)參數(shù)值來判斷所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)是否被誤判，其中所述控制器根據(jù)所述第二檢測結(jié)果來計算計數(shù)值，當(dāng)所述計數(shù)值小于所述預(yù)設(shè)參數(shù)值，所述控制器判斷所述多個按鍵的每一個的被按壓狀態(tài)未被誤判。7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述控制器包括：至少一第一接口電路，耦接到所述至少一條第一線以驅(qū)動或感測所述至少一條第一線；至少一第二接口電路，耦接到所述至少一條第二線以驅(qū)動或感測所述至少一條第二線；至少一第一比較電路，耦接到所述至少一條第二線；處理電路，耦接到所述至少一第一比較電路；以及驅(qū)動電路，耦接到所述至少一第一接口電路、所述至少一第二接口電路與所述處理電路，其中：所述驅(qū)動電路于所述第一檢測階段通過所述至少一第一接口電路并行驅(qū)動所述至少一條第一線至第一電位，所述至少一第二接口電路將所述至少一條第二線的電壓與參考電壓進行比較以產(chǎn)生所述第一檢測結(jié)果；所述驅(qū)動電路于所述第二檢測階段通過所述至少一第二接口電路并行驅(qū)動所述至少一條第二線至所述第一電位，所述至少一第一接口電路將所述至少一條第一線的電壓與所述參考電壓進行比較以產(chǎn)生所述第二檢測結(jié)果；以及所述處理電路于所述第一掃描階段依序地選取所述至少一條第一線的其中一個，所述處理電路通過所述驅(qū)動電路與所述至少一第一接口電路驅(qū)動所選取的所述至少一條第一線的其中所述者至所述第一電位且驅(qū)動所述至少一條第一線的其余者至第二電位，所述至少一第一比較電路接收所述至少一條第二線的電壓以作為至少一第一掃描電壓，所述至少一第一比較電路將所述至少一第一掃描電壓與比較電壓進行比較以產(chǎn)生所述粗略掃描結(jié)果。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述控制器還包括：第二比較電路，耦接到所述至少一條第二線與所述處理電路，其中，當(dāng)所述處理電路于所述第一掃描階段判斷所述多個按鍵的至少一個的被按壓狀態(tài)被誤判時，所述處理電路進入第二掃描階段并通過所述至少一第一接口電路的對應(yīng)者來將對應(yīng)于被誤判的所述按鍵的所述第一線驅(qū)動至所述第一電位且將所述至少一條第一線的其余者驅(qū)動至所述第二電位，所述處理電路啟動所述第二比較電路使所述第二比較電路接收被誤判的所述按鍵的所述第二線的電壓以作為第二掃描電壓，所述第二比較電路將所述第二掃描電壓與所述比較電壓進行比較以判斷被誤判的所述按鍵是否被按壓，其中所述至少一第一比較電路為不具備校正機制的比較電路，且所述第二比較電路為具備校正機制的比較電路或是具備校正機制的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述至少一第一接口電路或所述至少一第二接口電路為至少一焊墊電路或至少一通用輸入輸出電路。10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述處理電路于所述第一掃描階段根據(jù)所述第二檢測結(jié)果而依序地選取所述至少一條第一線的其中該者，其中對應(yīng)于所選取的所述第一線上的至少一個按鍵有被按壓。11.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鍵盤裝置，其特征在于，所述控制器包括：至少一第一接口電路，耦接到所述至少一條第一線以驅(qū)動或感測所述至少一條第一線；至少一第二接口電路，耦接到所述至少一條第二線以驅(qū)動或感測所述至少一條第二線；處理電路，耦接到所述至少一第一接口電路與所述至少一第二接口電路；以及驅(qū)動電路，耦接到所述至少一第一接口電路、所述至少一第二接口電路與所述處理電路，其中：所述驅(qū)動電路于所述第一檢測階段通過所述至少一第一接口電路并行驅(qū)動所述至少一條第一線至第一電位，所述至少一第二接口電路將所述至少一條第二線的電壓與參考電壓進行比較以產(chǎn)生所述第一檢測結(jié)果；所述驅(qū)動電路于所述第二檢測階段通過所述至少一第二接口電路并行驅(qū)動所述至少一條第二線至所述第一電位，所述至少一第一接口電路將所述至少一條第一線的電壓與所述參考電壓進行比較以產(chǎn)生所述第二檢測結(jié)果；以及所述處理電路于所述第一掃描階段依序地選取所述至少一條第一線的其中一個，所述處理電路通過所述驅(qū)動電路與所述至少一第一接口電路驅(qū)動所選取的所述至少一條第一線的其中該者至所述第一電位且驅(qū)動所述至少一條第一線的其余...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：蔡安綺，周家源，
申請(專利權(quán))人：聯(lián)陽半導(dǎo)體股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：中國臺灣,71