光耦傳輸比自動測試裝置和系統制造方法及圖紙

本發明專利技術公開一種光耦傳輸比自動測試裝置和系統。裝置包括：與光耦合器相連接，為光耦合器提供輸入電壓信號的可控電源；與可控電源相連接，調節可控電源輸出電壓信號的PWM波濾波電路；與光耦合器相連接，采集光耦合器的初級和次級電流信號，將初級和次級電流信號轉換為初級和次級電壓信號的電流信號轉換電路；與電流信號轉換電路相連接，將初級和次級電壓信號由模擬信號轉換為數字信號的模數轉換電路；與PWM波濾波電路和模數轉換電路相連接，持續調整PWM波的占空比，直至初級和次級電壓信號滿足預設測試條件時，計算光耦合器光耦傳輸比的主控芯片。本發明專利技術提供的技術方案，能夠準確的測試光耦合器的光耦傳輸比。

Optocoupler transmission ratio automatic test device and system

The invention discloses an automatic test device and system for an optical coupling transmission ratio. Device includes: connected with the optical coupler, provide input controllable power supply voltage signal for optical coupler; connected with controllable power supply, PWM wave filter circuit controlled power supply output voltage signal; connected with optical coupler, collecting optical coupler for the primary and secondary current signal, converting the primary and secondary current signal to current signal the primary and secondary voltage signal conversion circuit; and the current signal conversion circuit is connected to the primary and secondary voltage signal from the analog signal is converted to analog digital signal conversion circuit; connected with the PWM wave filter circuit and analog digital conversion circuit, adjusting the duty ratio of PWM wave, until the primary and secondary voltage signal to meet the preset test conditions, calculation of transmission ratio of the optical coupler coupler main control chip. The technical proposal provided by the invention can accurately test the optocoupler transmission ratio of the optical coupler.

【技術實現步驟摘要】
光耦傳輸比自動測試裝置和系統
本專利技術涉及電子
，尤其涉及一種光耦傳輸比自動測試裝置和系統。
技術介紹
光耦合器亦稱光電隔離器或光電耦合器，簡稱光耦。它是以光為媒介來傳輸電信號的器件，通常把發光器(即紅外線發光二極管)與受光器(光敏半導體管)封裝在同一管殼內。當輸入端加電信號時發光器發出光線，受光器接受光線之后就產生光電流，從輸出端流出，從而實現了“電-光-電”的轉換。以光為媒介把輸入端信號耦合到輸出端的光電耦合器，由于它具有體積小、壽命長、無觸點、抗干擾能力強、輸出和輸入之間絕緣以及單向傳輸信號等優點，在數字電路上獲得廣泛的應用。光耦傳輸比特指光耦的電流傳輸比，具體是指光耦的副邊電流IC與原邊電流IF的百分比，計算公式為CTR＝IC/IF×100％，CTR表示光耦傳輸比，它是光耦的一項重要指標。而在大多數廠家的光耦數據手冊中，傳輸比這項指標都是以一個范圍的形式給出的，例如：PC817光耦合器的傳輸比為80％～160％，達林頓型光耦合器(如4N30)傳輸比為100％～500％等。但是，在某些情況下，電路設計開發者需要知道光耦傳輸比較精確的值。而目前尚未存在能夠精確的測試光耦傳輸比的技術，從而無法滿足電路設計者的需求。
技術實現思路
有鑒于此，本專利技術提供了一種光耦傳輸比自動測試裝置和系統，能夠準確的測試光耦合器的光耦傳輸比，從而滿足電路設計者的需求。為實現上述目的，本專利技術提供如下技術方案：一種光耦傳輸比自動測試裝置，包括：與光耦合器相連接，為所述光耦合器提供輸入電壓信號的可控電源；與所述可控電源相連接，調節所述可控電源輸出電壓信號的PWM波濾波電路；與所述光耦合器相連接，采集所述光耦合器的初級和次級電流信號，將所述初級和次級電流信號轉換為初級和次級電壓信號的電流信號轉換電路；與所述電流信號轉換電路相連接，將所述初級和次級電壓信號由模擬信號轉換為數字信號的模數轉換電路；與所述PWM波濾波電路和所述模數轉換電路相連接，持續調整PWM波的占空比，直至所述初級和次級電壓信號滿足預設測試條件時，計算所述光耦合器光耦傳輸比的主控芯片。優選的，還包括：光耦卡槽插座；所述光耦合器插在所述光耦卡槽插座上，所述可控電源和所述電流信號轉換電路通過所述光耦卡槽插座與所述光耦合器相連接。優選的，所述光耦卡槽插座為16針孔的光耦卡槽插座。優選的，所述主控芯片為數字信號處理DSP芯片。優選的，還包括：顯示所述光耦合器光耦傳輸比的顯示模塊。優選的，所述顯示模塊為液晶顯示模塊。優選的，還包括：與所述主控芯片相連接的USB接口。優選的，還包括：與所述主控芯片相連接的USB接口。優選的，還包括：與所述主控芯片相連接的USB接口。一種光耦傳輸比自動測試系統，包括：上述所述的光耦傳輸比自動測試裝置；以及與所述光耦傳輸比自動測試裝置相連接，調整所述預設測試條件，顯示所述光耦合器光耦傳輸比的計算機。經由上述的技術方案可知，與現有技術相比，本專利技術提供了一種光耦傳輸比自動測試裝置和系統。本專利技術提供的光耦傳輸比自動測試裝置，包括：與光耦合器相連接，為所述光耦合器提供輸入電壓信號的可控電源；與所述可控電源相連接，調節所述可控電源輸出電壓信號的PWM波濾波電路；與所述光耦合器相連接，采集所述光耦合器的初級和次級電流信號，將所述初級和次級電流信號轉換為初級和次級電壓信號的電流信號轉換電路；與所述電流信號轉換電路相連接，將所述初級和次級電壓信號由模擬信號轉換為數字信號的模數轉換電路；與所述PWM波濾波電路和所述模數轉換電路相連接，持續調整PWM波的占空比，直至所述初級和次級電壓信號滿足預設測試條件時，計算所述光耦合器光耦傳輸比的主控芯片。即，本專利技術提供的技術方案，主控芯片通過調整輸出PWM波的占空比，實現調節所述可控電源輸出電壓信號，從而實現光耦合器初級和次級的電壓信號相應的變化，主控芯片分析光耦合器初級和次級電壓信號是否滿足預設測試條件，如不滿足，繼續調整輸出PWM波的占空比，直至光耦合器初級和次級電壓信號滿足預設測試條件，此時，再計算光耦合器的光耦傳輸比，從而保證計算得到的光耦合器的光耦傳輸比更加準確。因此，本專利技術提供的技術方案，能夠準確的測試光耦合器的光耦傳輸比，從而滿足電路設計者的需求。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據提供的附圖獲得其他的附圖。圖1為本專利技術實施例提供的一種光耦傳輸比自動測試裝置的結構圖；圖2為本專利技術實施例提供的另外一種光耦傳輸比自動測試裝置的結構圖；圖3為本專利技術實施例提供的一種光耦傳輸比自動測試系統的結構圖。具體實施方式下面將結合本專利技術實施例中的附圖，對本專利技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦＠夹g中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本專利技術保護的范圍。為使本專利技術的上述目的、特征和優點能夠更加明顯易懂，下面結合附圖和具體實施方式對現有技術和本專利技術作進一步詳細的說明。實施例請參閱圖1，圖1為本專利技術實施例提供的一種光耦傳輸比自動測試裝置的結構圖。光耦，即光耦合器，如圖1所示，該光耦傳輸比自動測試裝置，包括：與光耦合器101相連接，為所述光耦合器101提供輸入電壓信號的可控電源102；與所述可控電源102相連接，調節所述可控電源102輸出電壓信號的PWM(PulseWidthModulation，脈沖寬度調制)波濾波電路103；與所述光耦合器101相連接，采集所述光耦合器101的初級和次級電流信號，將所述初級和次級電流信號轉換為初級和次級電壓信號的電流信號轉換電路104；與所述電流信號轉換電路104相連接，將所述初級和次級電壓信號由模擬信號轉換為數字信號的模數轉換電路105；與所述PWM波濾波電路103和所述模數轉換電路105相連接，持續調整PWM波的占空比，直至所述初級和次級電壓信號滿足預設測試條件時，計算所述光耦合器101光耦傳輸比的主控芯片106?？蛇x的，比如測量某一種光耦合器正常工作時的光耦傳輸比，假設該種光耦合器正常工作時，初級輸入電流為5毫安，次級電壓為5伏，那么所述預設測試條件為：所述初級電壓信號需要是初級輸入電流為5毫安時對應的電壓信號(假設為a伏)，所述次級電壓信號需要為5伏。也就是說，所述主控芯片106在所述初級電壓信號為a伏、所述次級電壓為5伏時，即滿足預設測試條件時，才計算該種光耦合器的光耦傳輸比；否則，持續調整PWM波的占空比，直至所述初級和次級電壓信號滿足預設測試條件。需要說明的是，所述預設測試條件為預先設定的測試條件，與具體類別的光耦合器相對應，不同種類的光耦合器，預設測試條件可以不同。預設測試條件可以預先設定，固化在所述主控芯片內，因此，本專利技術實施例提供的技術方案，能夠測試各個種類的光耦合器的光耦傳輸比，適用性很強。具體的，本專利技術實施例提供的技術方案，主控芯片通過調整輸出PWM波的占空比，實現調節所述可控電源輸出電壓信號，從而實現光耦合器初級和次級的電壓信號相應的變化，主控芯片本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種光耦傳輸比自動測試裝置，其特征在于，包括：與光耦合器相連接，為所述光耦合器提供輸入電壓信號的可控電源；與所述可控電源相連接，調節所述可控電源輸出電壓信號的脈沖寬度調制PWM波濾波電路；與所述光耦合器相連接，采集所述光耦合器的初級和次級電流信號，將所述初級和次級電流信號轉換為初級和次級電壓信號的電流信號轉換電路；與所述電流信號轉換電路相連接，將所述初級和次級電壓信號由模擬信號轉換為數字信號的模數轉換電路；與所述脈沖寬度調制PWM波濾波電路和所述模數轉換電路相連接，持續調整脈沖寬度調制PWM波的占空比，直至所述初級和次級電壓信號滿足預設測試條件時，計算所述光耦合器光耦傳輸比的主控芯片。

【技術特征摘要】
1.一種光耦傳輸比自動測試裝置，其特征在于，包括：與光耦合器相連接，為所述光耦合器提供輸入電壓信號的可控電源；與所述可控電源相連接，調節所述可控電源輸出電壓信號的脈沖寬度調制PWM波濾波電路；與所述光耦合器相連接，采集所述光耦合器的初級和次級電流信號，將所述初級和次級電流信號轉換為初級和次級電壓信號的電流信號轉換電路；與所述電流信號轉換電路相連接，將所述初級和次級電壓信號由模擬信號轉換為數字信號的模數轉換電路；與所述脈沖寬度調制PWM波濾波電路和所述模數轉換電路相連接，持續調整脈沖寬度調制PWM波的占空比，直至所述初級和次級電壓信號滿足預設測試條件時，計算所述光耦合器光耦傳輸比的主控芯片。2.根據權利要求1所述的光耦傳輸比自動測試裝置，其特征在于，還包括：光耦卡槽插座；所述光耦合器插在所述光耦卡槽插座上，所述可控電源和所述電流信號轉換電路通過所述光耦卡槽插座與所述光耦合器相連接。3.根據權利要求2所述的光耦傳輸比自動測試裝置，其特征在于，所述光耦卡槽插座為...

【專利技術屬性】
技術研發人員：黃彥東，韓雪松，陳強，谷建柱，張健，
申請(專利權)人：北京鐵路信號有限公司，
類型：發明
國別省市：北京,11