一種用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置，包括分度機(jī)構(gòu)，傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，晶體支撐部件，支撐框架，定位機(jī)構(gòu)，分度機(jī)構(gòu)通過傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與晶體支撐部件相聯(lián)，分度機(jī)構(gòu)包括分度從動(dòng)部件和分度主動(dòng)部件，分度主動(dòng)部件與分度從動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)聯(lián)接，傳動(dòng)機(jī)構(gòu)包括傳動(dòng)主部件和傳動(dòng)從部件，分度從動(dòng)部件和傳動(dòng)機(jī)構(gòu)以及晶體支撐部件均安裝在支撐框架上，分度機(jī)構(gòu)的分度數(shù)量與晶體支撐部件安裝的晶體數(shù)量相同；定位機(jī)構(gòu)安裝在支撐框架上?；本發(fā)明專利技術(shù)通過采用分度機(jī)構(gòu)、晶體支撐部件和定位機(jī)構(gòu)的結(jié)合，在完成切換晶體的同時(shí)還保證了晶體的定位精度，且動(dòng)作過程可靠，并使檢測裝置的壽命在工業(yè)現(xiàn)場頻繁使用下都能增加，因此具有明顯的優(yōu)點(diǎn)。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)屬于光譜儀檢測儀器領(lǐng)域，尤其涉及一種用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置。
技術(shù)介紹
光譜儀需要測量數(shù)十個(gè)元素的特征譜線；而單獨(dú)一塊晶體只能檢測有限數(shù)量的特征譜線，只有通過晶體切換裝置將多個(gè)晶體逐個(gè)切換，才能實(shí)現(xiàn)全部譜線的測量；光譜儀是精密測量儀器，工業(yè)現(xiàn)場使用頻率高；這就要求晶體切換裝置切換定位精度高，動(dòng)作可靠，使用壽命長；實(shí)際工作中還要求滿足真空條件下的工作需要，因此迫切需要尋找一種能夠解決此問題的晶體切換結(jié)構(gòu)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
有鑒于此，需要克服現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷中的至少一個(gè)。本專利技術(shù)提供了一種用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置，其特征在于,包括分度機(jī)構(gòu)，傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，晶體支撐部件，支撐框架，定位機(jī)構(gòu)； 所述分度機(jī)構(gòu)通過所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述晶體支撐部件相聯(lián)；所述分度機(jī)構(gòu)包括分度從動(dòng)部件和分度主動(dòng)部件，所述分度主動(dòng)部件與所述分度從動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)聯(lián)接；所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)包括傳動(dòng)主部件和傳動(dòng)從部件；所述分度從動(dòng)部件和所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)以及所述晶體支撐部件均安裝在所述支撐框架上；所述分度機(jī)構(gòu)的分度數(shù)量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數(shù)量相同；所述定位機(jī)構(gòu)安裝在所述支撐框架上，所述定位機(jī)構(gòu)包括定位基座，定位模塊以及回彈機(jī)構(gòu)；所述定位基座中心軸安裝在所述支撐框架上且具有基座定位結(jié)構(gòu)，所述定位模塊一端聯(lián)接在所述支撐框架上，另一端具有模塊定位結(jié)構(gòu)，所述基座定位結(jié)構(gòu)與所述模塊定位結(jié)構(gòu)緊密配合，所述回彈機(jī)構(gòu)一端固定聯(lián)接在所述支撐框架上，另一端與所述定位模塊相聯(lián)；所述定位基座為圓盤結(jié)構(gòu)，所述基座定位結(jié)構(gòu)位于所述圓盤結(jié)構(gòu)邊緣，所述基座定位結(jié)構(gòu)為凹槽或凸起，所述模塊定位結(jié)構(gòu)為與所述凹槽或凸起精確配合的定位凸起或定位凹槽；所述基座定位結(jié)構(gòu)和所述模塊定位結(jié)構(gòu)精密配合且所述基座定位結(jié)構(gòu)數(shù)量為大于等于1的自然數(shù)，所述基座定位結(jié)構(gòu)的數(shù)量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數(shù)量一一且位置精確對應(yīng)。根據(jù)本專利
技術(shù)介紹
中對現(xiàn)有技術(shù)所述，在光譜儀測量元素的特征譜線時(shí)，由于有幾十種元素，而單個(gè)晶體只能測量有限數(shù)量的特征譜線，因此只能通過晶體切換裝置將多個(gè)晶體逐漸切換，而對于切換前后晶體的位置總是存在較大的誤差；而本專利技術(shù)公開的一種用于光譜檢測的晶體切換裝置，通過采用分度機(jī)構(gòu)、晶體支撐部件和定位機(jī)構(gòu)的結(jié)合，在完成切換晶體的同時(shí)還保證了晶體的定位精度，且動(dòng)作過程可靠，并使檢測裝置的壽命在工業(yè)現(xiàn)場頻繁使用下都能增加，因此具有明顯的優(yōu)點(diǎn)。另外，根據(jù)本專利技術(shù)公開的用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置還具有如下附加技術(shù)特征：進(jìn)一步地，所述晶體切換裝置還包括所述分度機(jī)構(gòu)支撐部和動(dòng)力源，所述分度主動(dòng)部件安裝在所述動(dòng)力源輸出軸上且與所述動(dòng)力源一同安裝在所述分度機(jī)構(gòu)支撐部上，所述分度從動(dòng)部件安裝在所述支撐框架上：所述分度機(jī)構(gòu)水平放置，所述傳動(dòng)主部件和所述分度從動(dòng)部件相聯(lián)且安裝在所述支撐框架上，所述傳動(dòng)主部件為端面齒輪，所述傳動(dòng)從部件為直齒輪，所述端面齒輪與所述直齒輪嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉(zhuǎn)動(dòng)聯(lián)接；或所述分度機(jī)構(gòu)豎直放置，所述傳動(dòng)主部件和所述分度從動(dòng)部件相聯(lián)且安裝在所述支撐框架上，所述傳動(dòng)主部件為主動(dòng)直齒輪，所述傳動(dòng)從部件為直齒輪，所述主動(dòng)直齒輪端面與所述直齒輪端面處于平行面或同一平面上且嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉(zhuǎn)動(dòng)聯(lián)接。進(jìn)一步地，所述晶體支撐部件為柱型，包括n個(gè)晶體裝配結(jié)構(gòu)，所述晶體裝配結(jié)構(gòu)均勻分布在所述晶體支撐部件的外側(cè)面。更進(jìn)一步地，所述晶體裝配結(jié)構(gòu)包括開口背離所述晶體支撐部件中心方向的第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于所述第二凹槽下方，所述第二凹槽頂部具有凸起，所述第二凹槽側(cè)面及所述凸起內(nèi)側(cè)面為與晶體表面相配合的平面。優(yōu)選地，所述晶體支撐部件中空，且具有中軸。更進(jìn)一步地，所述晶體裝配結(jié)構(gòu)的內(nèi)表面安裝有具有向外彈出部件的彈性裝置，所述向外彈出部件的頂端高于所述第一凹槽的深度。可選地，所述彈性裝置下端具有橫片，下部形成“L”型結(jié)構(gòu)。更進(jìn)一步地，所述晶體裝配結(jié)構(gòu)中形成所述第一凹槽和所述第二凹槽的兩側(cè)支板上表面為平面且具有第三凹槽。進(jìn)一步地，所述支撐框架為立體四邊結(jié)構(gòu)，包括上支撐邊，下支撐邊，左支撐邊，右支撐邊，所述上支撐邊上具有與通過所述晶體支撐部件中軸線的中軸相聯(lián)的轉(zhuǎn)動(dòng)部件，所述定位基座安裝在所述晶體支撐部件的下方且與所述晶體支撐部件精確固定。進(jìn)一步地，所述晶體切換裝置還包括動(dòng)力源，所述動(dòng)力源與所述分度主動(dòng)部件相聯(lián)。進(jìn)一步地，所述分度從動(dòng)部件為分度盤。進(jìn)一步地，所述分度主動(dòng)部件為兩端安裝有轉(zhuǎn)動(dòng)件的桿件結(jié)構(gòu)。本專利技術(shù)附加的方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本專利技術(shù)的實(shí)踐了解到。附圖說明本專利技術(shù)的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從下面結(jié)合附圖對實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中：圖1用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置整體示意圖；圖2去除晶體支撐裝置及定位機(jī)構(gòu)等部件的用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置示意圖；圖3分度機(jī)構(gòu)示意圖；圖4晶體切換裝置示意圖；圖5是已裝載了晶體的晶體支撐部件示意圖；圖6是晶體支撐部件的T型部件；圖7晶體支撐部件的某方向的示意圖；圖8是定位機(jī)構(gòu)的示意圖；圖中，100支撐框架，20定位機(jī)構(gòu)，201回彈機(jī)構(gòu)，202定位基座，2021基座定位結(jié)構(gòu)，203定位模塊，2031模塊定位結(jié)構(gòu)，301齒輪，400晶體，401晶體支撐部件，4011晶體裝配結(jié)構(gòu)，4012晶體支撐部件中軸，4013第二凹槽，4014第一凹槽，4015支板，4016第三凹槽，4017凸起，4018彈性裝置，4019T型部件，50分度機(jī)構(gòu)，501分度主動(dòng)部件和502分度從動(dòng)部件，60傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，601傳動(dòng)主部件和602傳動(dòng)從部件，701分度機(jī)構(gòu)支撐部和702動(dòng)力源。具體實(shí)施方式下面詳細(xì)描述本專利技術(shù)的實(shí)施例，所述實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，僅用于解釋本專利技術(shù)，而不能解釋為對本專利技術(shù)的限制。在本專利技術(shù)的描述中，需要理解的是，術(shù)語 “上”、“下”、“底”、“頂”、“前”、“后”、“內(nèi)”、“外”、“橫”、“豎”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本專利技術(shù)和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本專利技術(shù)的限制。在本專利技術(shù)的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“連接”、“連通”、“相連”、“連接”、“配合”應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，一體地連接，也可以是可拆卸連接；可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連；“配合”可以是面與面的配合，也可以是點(diǎn)與面或線與面的配合，也包括孔軸的配合，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本專利技術(shù)中的具體含義。本專利技術(shù)的構(gòu)思如下，通過采用分度機(jī)構(gòu)、晶體支撐部件和定位機(jī)構(gòu)的結(jié)合，在完成切換晶體的同時(shí)還保證了晶體的定位精度，且動(dòng)作過程可靠，即使在工業(yè)現(xiàn)場頻繁使用下，檢測裝置的壽命都有顯著提高，因此具有明顯的優(yōu)點(diǎn)。下面將參照附圖來描述本專利技術(shù)，其中圖1用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置整體示意圖；圖2去除晶體支撐裝置及定位機(jī)構(gòu)等部件的用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置，其特征在于,包括分度機(jī)構(gòu)，傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，晶體支撐部件，支撐框架，定位機(jī)構(gòu)；所述分度機(jī)構(gòu)通過所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述晶體支撐部件相聯(lián)；所述分度機(jī)構(gòu)包括分度從動(dòng)部件和分度主動(dòng)部件，所述分度主動(dòng)部件與所述分度從動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)聯(lián)接；所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)包括傳動(dòng)主部件和傳動(dòng)從部件；所述分度從動(dòng)部件和所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)以及所述晶體支撐部件均安裝在所述支撐框架上；所述分度機(jī)構(gòu)的分度數(shù)量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數(shù)量相同；所述定位機(jī)構(gòu)安裝在所述支撐框架上，所述定位機(jī)構(gòu)包括定位基座，定位模塊以及回彈機(jī)構(gòu)；所述定位基座中心軸安裝在所述支撐框架上且具有基座定位結(jié)構(gòu)，所述定位模塊一端聯(lián)接在所述支撐框架上，另一端具有模塊定位結(jié)構(gòu)，所述基座定位結(jié)構(gòu)與所述模塊定位結(jié)構(gòu)緊密配合，所述回彈機(jī)構(gòu)一端固定聯(lián)接在所述支撐框架上，另一端與所述定位模塊相聯(lián)；所述定位基座為圓盤結(jié)構(gòu)，所述基座定位結(jié)構(gòu)位于所述圓盤結(jié)構(gòu)邊緣，所述基座定位結(jié)構(gòu)為凹槽或凸起，所述模塊定位結(jié)構(gòu)為與所述凹槽或凸起精確配合的定位凸起或定位凹槽；所述基座定位結(jié)構(gòu)和所述模塊定位結(jié)構(gòu)精密配合且所述基座定位結(jié)構(gòu)數(shù)量為大于等于1的自然數(shù)，所述基座定位結(jié)構(gòu)的數(shù)量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數(shù)量一一且位置精確對應(yīng)。...

【技術(shù)特征摘要】
1.一種用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置，其特征在于,包括分度機(jī)構(gòu)，傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，晶體支撐部件，支撐框架，定位機(jī)構(gòu)；所述分度機(jī)構(gòu)通過所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述晶體支撐部件相聯(lián)；所述分度機(jī)構(gòu)包括分度從動(dòng)部件和分度主動(dòng)部件，所述分度主動(dòng)部件與所述分度從動(dòng)部件轉(zhuǎn)動(dòng)聯(lián)接；所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)包括傳動(dòng)主部件和傳動(dòng)從部件；所述分度從動(dòng)部件和所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)以及所述晶體支撐部件均安裝在所述支撐框架上；所述分度機(jī)構(gòu)的分度數(shù)量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數(shù)量相同；所述定位機(jī)構(gòu)安裝在所述支撐框架上，所述定位機(jī)構(gòu)包括定位基座，定位模塊以及回彈機(jī)構(gòu)；所述定位基座中心軸安裝在所述支撐框架上且具有基座定位結(jié)構(gòu)，所述定位模塊一端聯(lián)接在所述支撐框架上，另一端具有模塊定位結(jié)構(gòu)，所述基座定位結(jié)構(gòu)與所述模塊定位結(jié)構(gòu)緊密配合，所述回彈機(jī)構(gòu)一端固定聯(lián)接在所述支撐框架上，另一端與所述定位模塊相聯(lián)；所述定位基座為圓盤結(jié)構(gòu)，所述基座定位結(jié)構(gòu)位于所述圓盤結(jié)構(gòu)邊緣，所述基座定位結(jié)構(gòu)為凹槽或凸起，所述模塊定位結(jié)構(gòu)為與所述凹槽或凸起精確配合的定位凸起或定位凹槽；所述基座定位結(jié)構(gòu)和所述模塊定位結(jié)構(gòu)精密配合且所述基座定位結(jié)構(gòu)數(shù)量為大于等于1的自然數(shù)，所述基座定位結(jié)構(gòu)的數(shù)量與所述晶體支撐部件安裝的晶體數(shù)量一一且位置精確對應(yīng)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于光譜檢測具有分度機(jī)構(gòu)的晶體切換裝置，其特征在于，所述晶體切換裝置還包括分度機(jī)構(gòu)支撐部和動(dòng)力源，所述分度主動(dòng)部件安裝在所述動(dòng)力源輸出軸上且與所述動(dòng)力源一同安裝在所述分度機(jī)構(gòu)支撐部上，所述分度從動(dòng)部件安裝在所述支撐框架上：所述分度機(jī)構(gòu)水平放置，所述傳動(dòng)主部件和所述分度從動(dòng)部件相聯(lián)且安裝在所述支撐框架上，所述傳動(dòng)主部件為端面齒輪，所述傳動(dòng)從部件為直齒輪，所述端面齒輪與所述直齒輪嚙合，所述直齒輪與所述晶體支撐部件轉(zhuǎn)動(dòng)聯(lián)接；或所述分度機(jī)構(gòu)豎直放置，所述傳動(dòng)主部件和所述分度從動(dòng)部件相聯(lián)且安裝在所述支撐框架上，所述傳動(dòng)主部件為主動(dòng)直齒輪，所述傳動(dòng)從部件為直齒輪，所述主動(dòng)直齒輪端面與所述直齒輪端面處于平行面或同一平面上且嚙合，所...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：應(yīng)剛，黃沖，吳娜，朱剛，
申請(專利權(quán))人：江蘇天瑞儀器股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：江蘇;32