射頻功率校準方法、裝置及系統制造方法及圖紙

本發明專利技術涉及一種射頻功率校準方法、裝置及系統，所述方法包括步驟：A)控制待測射頻器件發射第一載波射頻信號；B)控制功率檢測裝置檢測所述第一載波射頻信號；C)從所述待測射頻器件中獲取由所述第一載波射頻信號轉換形成的第一測量值，并從所述功率檢測裝置中獲取對所述第一載波射頻信號檢測形成的第二測量值；D)根據所述第一測量值和所述第二測量值計算射頻功率校準系數；以及E)上傳所述校準系數至所述待測射頻器件。本發明專利技術實現不僅能避免人工手動校準過程中因人為因素造成的錯誤，還能使得校準過程準確快捷。

【技術實現步驟摘要】
201410690769

【技術保護點】
一種射頻功率校準方法，其特征在于，包括步驟：A)控制待測射頻器件發射第一載波射頻信號；B)控制功率檢測裝置檢測所述第一載波射頻信號；C)從所述待測射頻器件中獲取由所述第一載波射頻信號轉換形成的第一測量值，并從所述功率檢測裝置中獲取對所述第一載波射頻信號檢測形成的第二測量值；D)根據所述第一測量值和所述第二測量值計算射頻功率校準系數；以及E)上傳所述校準系數至所述待測射頻器件。

【技術特征摘要】
1.一種射頻功率校準方法，其特征在于，包括步驟：
A)控制待測射頻器件發射第一載波射頻信號；
B)控制功率檢測裝置檢測所述第一載波射頻信號；
C)從所述待測射頻器件中獲取由所述第一載波射頻信號轉換形成的
第一測量值，并從所述功率檢測裝置中獲取對所述第一載波射頻信號檢
測形成的第二測量值；
D)根據所述第一測量值和所述第二測量值計算射頻功率校準系數；
以及
E)上傳所述校準系數至所述待測射頻器件。
2.如權利要求1所述的射頻功率校準方法，其特征在于，還包括：
配置所述待測射頻器件的第一載波增益值；
相應地，步驟D)包括：
根據所述第一載波增益值、所述第一測量值和所述第二測量值計算
射頻功率校準系數。
3.如權利要求1所述的射頻功率校準方法，其特征在于，在步驟A)
之前，還包括：
配置所述待測射頻器件的射頻參數，以及配置所述功率檢測裝置的
檢測參數。
4.如權利要求1所述的射頻功率校準方法，其特征在于，在步驟E)
之后，還包括：
配置所述待測射頻器件的第二載波增益值；
控制所述待測射頻器件發射第二載波射頻信號；
控制所述功率檢測裝置檢測所述第二載波射頻信號；
從所述待測射頻器件中讀取由所述第二載波射頻信號轉換形成的
第三測量值，并從所述功率檢測裝置中獲取對所述第二載波射頻信號檢

\t測形成的第四測量值；
根據所述第二載波增益值、所述第三測量值和所述第四測量值判斷
射頻功率校準是否成功；
若是，結束校準流程；
若否，發送失敗指令以提示是否重新進行射頻功率校準。
5.一種射頻功率校準裝置，其特征在于，包括：
第一控制模塊，用于控制待測射頻器件發射第一載波射頻信號；
第二控制模塊，用于控制功率檢測裝置檢測所述第一載波射頻信
號；
獲取模塊，用于從所述待測射頻器件中獲取由所述第一載波射頻信
號轉換形成的第一測量...

【專利技術屬性】
技術研發人員：董旭，
申請(專利權)人：航天信息股份有限公司，
類型：發明
國別省市：北京;11