【技術實現步驟摘要】
本技術涉及光通信器件領域的中間耦合測試裝置領域，尤其一種光器件耦合測試用帶衰減光纖跳線，適用于光器件的中間耦合測試工序。
技術介紹
光通信行業市場的持續升溫，帶來了光器件需求的大幅度增加。在光器件產量大幅增加的同時，使用普通光纖跳線進行光器件的耦合，由于是跳線插芯端面與產品插芯端面直接接觸，在生產制程中產生的端面不良就顯得越發突出，所以急需找到一種能夠降低制程中端面不良的方案。
技術實現思路
本技術的目的是針對現有技術存在的上述問題，提供一種光器件耦合測試用帶衰減光纖跳線，可以實現光器件插芯端面與光纖跳線端面非接觸式對接，從而避免了因插芯端面直接對接造成的端面碰傷不良。本技術的上述目的通過以下技術方案實現：一種光器件耦合測試用帶衰減光纖跳線，包括光接頭，光接頭與光纖一端連接，光纖另一端依次穿過尾套、安裝筒并與插芯座一端連接，插芯座另一端與插芯一端連接，插芯座上套設有彈簧，安裝筒內設置有凸臺，插芯座上設置有限位環，彈簧兩端分別與凸臺和限位環相抵，安裝筒外套設有內殼，內殼外套設有外殼，外殼與尾套連接，插芯另一端為測試端，測試端依次穿出內殼和外殼，測試端的端面上設置有銅套安裝柱，銅套安裝柱上安裝有銅套，銅套的外徑與測試端的外徑相同，銅套的端面的中心設置有光通孔。如上所述的銅套的端面的邊沿設置有倒角。本技術與現有技術相比，具有以下優點：1、結構簡單，使用方便，使用壽命長；2、采用銅套進行陶瓷插芯端面非接觸的隔離介質，銅的材質比陶瓷軟，待測光器件的陶瓷插芯與銅套接觸不會導致待測光器件的...
【技術保護點】
一種光器件耦合測試用帶衰減光纖跳線，包括光接頭（15），其特征在于，光接頭（15）與光纖（1）一端連接，光纖（1）另一端依次穿過尾套（2）、安裝筒（3）并與插芯座（6）一端連接，插芯座（6）另一端與插芯（7）一端連接，插芯座（6）上套設有彈簧（5），安裝筒（3）內設置有凸臺（4），插芯座（6）上設置有限位環（13），彈簧（5）兩端分別與凸臺（4）和限位環（13）相抵，安裝筒（3）外套設有內殼（9），內殼（9）外套設有外殼（10），外殼（10）與尾套（2）連接，插芯（7）另一端為測試端，測試端依次穿出內殼（9）和外殼（10），測試端的端面上設置有銅套安裝柱（12），銅套安裝柱（12）上安裝有銅套（8），銅套（8）的外徑與測試端的外徑相同，銅套（8）的端面的中心設置有光通孔（801）。
【技術特征摘要】
1.一種光器件耦合測試用帶衰減光纖跳線，包括光接頭（15），其特征在于，光接頭（15）與光纖（1）一端連接，光纖（1）另一端依次穿過尾套（2）、安裝筒（3）并與插芯座（6）一端連接，插芯座（6）另一端與插芯（7）一端連接，插芯座（6）上套設有彈簧（5），安裝筒（3）內設置有凸臺（4），插芯座（6）上設置有限位環（13），彈簧（5）兩端分別與凸臺（4）和限位環（13）相抵，安裝筒（3）外套設有內殼（9），內殼（9）外套...
【專利技術屬性】
技術研發人員：嚴付安，杜金能，
申請(專利權)人：四川燦光光電有限公司，
類型：新型
國別省市：四川;51
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