【技術實現步驟摘要】
一種電容測試裝置
本技術涉及一種電容測試裝置，具體與一種可批量自動測試電容參數，提升電容測試效率的電容測試裝置有關。
技術介紹
現有電容測試，采用電容測試儀測試電容參數，但現有的測試方法需要將電容測試儀兩個測試端子人工夾住電容兩端，再讀取測試參數，這樣每測試一個電容均需要人工固定電容，測試效率低。
技術實現思路
為解決現有技術中存在的技術問題，本技術提供了一種可批量自動測試電容參數，提升電容測試效率的電容測試裝置。本技術解決上述技術問題，所采用的技術方案是:一種電容測試裝置，包括電容測試儀，其兩端連接測試板，測試板上設有插撥式夾子，待測電容插置到所述的插撥式夾子內定位，所述的測試板內設有時序控制器連接驅動開關，驅動開關連接繼電器，繼電器連接待測電容，所述的電容測試儀通過相應的繼電器與待測電容連接。進一步，所述的驅動開關包括與時序控制器連接由其控制的一組譯碼器及與譯碼器連接并由其控制的一組MOS管，一組MOS管，與相應的繼電器連接并控制其通斷。采用上述技術方案，本技術采用時序控制器控制譯碼器數據輸出信號驅動MOS管開關，繼而控制繼電器導通，使該繼電器所控制待測電容連接至電容測試儀，即可讀取待測電容的測試參數。時序控制器輸出譯碼器所需要的數據輸入信號，譯碼器數據輸出不同端口按照設定時序處于有效電平，使不同譯碼器數據輸出端口所控制MOS管開通，繼而使MOS管所驅動的繼電器導通，不同繼電器KAn導通不同待測電容Cn，即可達到快速批量測試的目的。【附圖說明】此處所說明的附圖用來提供對本技術的進一步理解，構成本技術的一部分，本技術的示意性實施例及其說明用于解釋本技術，...
【技術保護點】
一種電容測試裝置，其特征在于：包括電容測試儀（1），其兩端連接測試板（2），測試板（2）上設有插撥式夾子（3），待測電容（4）插置到所述的插撥式夾子（3）內定位，所述的測試板（2）內設有時序控制器（5）連接驅動開關（6）,驅動開關（6）連接繼電器（7），繼電器（7）連接待測電容（4），所述的電容測試儀（1）通過相應的繼電器（7）與待測電容（4）連接。
【技術特征摘要】
1.一種電容測試裝置，其特征在于:包括電容測試儀(1)，其兩端連接測試板(2)，測試板(2)上設有插撥式夾子(3)，待測電容(4)插置到所述的插撥式夾子(3)內定位，所述的測試板(2)內設有時序控制器(5)連接驅動開關(6)，驅動開關(6)連接繼電器(7)，繼電器(7 )連接待測電容(4)，所述的電容...
【專利技術屬性】
技術研發人員：鄭金龍，
申請(專利權)人：泉州市鯉城區強力巨彩光電科技有限公司，
類型：新型
國別省市：福建;35
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。