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    基于多峰分裂周期解調保偏光纖偏振耦合點位置的方法技術

    技術編號:10363322 閱讀:161 留言:0更新日期:2014-08-27 19:20
    一種基于多峰分裂周期解調保偏光纖偏振耦合點位置的方法。該方法采用SLD寬帶光源構建基于邁克爾遜的保偏光纖偏振耦合測試系統,由光源出射的光經起偏器耦合進保偏光纖形成激發模,光纖中的耦合點將部分激發模串擾至正交的耦合模傳輸,形成了激發模與耦合模的光程差,采用邁克爾遜干涉儀平衡此光程差,形成干涉;干涉信號解調步驟為:將探測器所采集到的多峰分裂條紋進行周期提取;利用多峰分裂條紋周期計算偏振耦合點的相對位置和空間分辨率。本發明專利技術通過解調干涉條紋中的多峰分裂周期,得到了偏振耦合點的相對位置,提高了偏振耦合點的空間分辨率,減小了保偏光纖雙折射色散影響。該方法簡單實用,具有較強的實用性。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及利用多峰分裂干涉圖解調保偏光纖偏振耦合點位置的方法,特別是利用保偏光纖多峰分裂現象,利用多峰分裂的周期解調光纖耦合點位置,提高了保偏光纖耦合點的空間分辨率,屬于光學測量

    技術介紹
    保偏光纖作為一種能夠保持傳輸光偏振態的特種光纖,通過在光纖內部引入固有內應力或改變光纖幾何形狀使光纖產生固有雙折射,從而消除微擾雙折射對傳輸光偏振態的影響來實現保偏傳輸。保偏光纖被廣泛應用于相干光光纖通信系統、光纖陀螺、光無源器件以及對偏振態敏感的光纖類傳感器。基于保偏光纖耦合點偏振檢測的白光干涉系統中,由于保偏光纖存在雙折射,因此,隨著保偏光纖的長度增加,雙折射色散引起干涉包絡展寬,使得相鄰耦合點形成的干涉包絡相連,從而相鄰耦合點無法分辨,導致了保偏光纖耦合點的空間分辨率降低。為了補償色散影響,已提出多種方法減小色散影響,提高空間分辨率。補償色散方法主要分為兩大類,一類是采用色散介質補償,另一類是通過復雜的數據處理方法。專利200710199953提出一種色度色散補償光纖,通過正負色散值光纖的結合補償通信系統中光纖線路的色散。專利200710107461.9提出一種電學的方法處理采集信號,可實現對任意色散值的光纖進行補償。專利200610052463.8提出一種光學相干層析成像中的色散補償方法,通過在原有的單光柵快速掃描延遲線中增加一塊與原有閃耀光柵平行放置的閃耀光柵來實現。以上色散補償方法多采用色散補償光纖或是電學、光學相位調制的補償方法,這些方法或者只能對具有固定色散值的光纖進行補償,或者由于其自身的頻帶范圍有限等因素的影響,并不能實現對超寬帶光信號的色散有效的補償,或者實施裝置復雜,易引入噪聲和誤差等。由于保偏光纖受雙折射色散影響,空間分辨率隨著保偏光纖長度下降,為了提高空間分辨率,專利201110242297.9提出了一種利用數據處理得到保偏光纖的雙折射色散系數,得到色散補償所需的相位因子,將補償相位因子和帶有色散信息的非線性頻譜函數相乘,得到色散補償后的干涉信號,從而提高空間分辨率。
    技術實現思路
    本專利技術目的是解決保偏光纖由于雙折射色散影響,致使保偏光纖耦合點的空間分辨率隨著光纖長度而下降的問題,提供一種。當保偏光纖較長時,光纖雙折射色散致展寬的偏振耦合點干涉包絡發生不同程度的重疊,產生拍頻,使干涉包絡分裂為多個峰,為多峰分裂現象。本專利技術利用多峰分裂現象提取分裂周期,從而可以提高耦合點的空間分辨率,增加了近距離耦合點的分辨本領。本專利技術技術方案:,采用SLD寬帶光源構建基于邁克爾遜的保偏光纖偏振耦合測試系統,由光源出射的光經起偏器耦合進保偏光纖形成激發模,光纖中的耦合點將部分激發模串擾至正交的耦合模傳輸,形成了激發模與耦合模的光程差,采用邁克爾遜干涉儀平衡此光程差,形成干涉;該方法的具體解調步驟如下: 第1、將探測器所采集到的多峰分裂條紋進行周期提取。首先對干涉條紋進行小波去噪,然后對多峰分裂的干涉條紋進行包絡提取,并進行曲線擬合,最后計算干涉包絡周期。實驗中得到的多峰分裂的條紋周期為 T=ANfls,(I) 式中是兩個分裂峰之間的采樣點,/?是空間采樣頻率。第2、利用多峰分裂條紋周期計算偏振耦合點的相對位置。SLD光源基于高斯分布,保偏光纖在干涉條紋中將會加入附加的相位。本文檔來自技高網
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    【技術保護點】
    一種基于多峰分裂周期解調保偏光纖偏振耦合點位置的方法,該方法采用SLD寬帶光源構建基于邁克爾遜的保偏光纖偏振耦合測試系統,由光源出射的光經起偏器耦合進保偏光纖形成激發模,光纖中的耦合點將部分激發模串擾至正交的耦合模傳輸,形成了激發模與耦合模的光程差,采用邁克爾遜干涉儀平衡此光程差,形成干涉;其特征在于該方法的具體解調步驟如下:第1、將探測器所采集到的多峰分裂條紋進行周期提取;首先對干涉條紋進行小波去噪,然后對多峰分裂的干涉條紋進行包絡提取,并進行曲線擬合,最后計算干涉包絡周期;實驗中得到的多峰分裂的條紋周期為,??????????????????????????????????????????????????????(1)式中?ΔN?是兩個分裂峰之間的采樣點,Fs?是空間采樣頻率;?第2、利用多峰分裂條紋周期計算偏振耦合點的相對位置;SLD光源基于高斯分布,保偏光纖在干涉條紋中將會引入附加的相位,(2)式中,k(n)(ω0)=dnk/dωn?(ω=?ω0)?是第n階?nth?色散系數,n?和ng?分別是相折射率和群折射率,ω?和ω0?分別是光源頻率和中心頻率,D?是保偏光纖的群速度色散,z?是保偏光纖的光程,c?是真空中光速,則干涉條紋強度為(3)式中Lco?是光源的相干長度,Δx?是參考臂的光程,φ?是干涉條紋的初始相位常數,η是由于雙折射色散引起的相干包絡展寬速度,,其中λ0?和?λ?分別是光源的中心波長和光譜寬度;形成多峰分裂時,條紋周期為(4)采用多峰分裂周期解調,偏振耦合點的空間相對位置為:(5)。...

    【技術特征摘要】
    1.一種基于多峰分裂周期解調保偏光纖偏振耦合點位置的方法,該方法采用SLD寬帶光源構建基于邁克爾遜的保偏光纖偏振耦合測試系統,由光源出射的光經起偏器耦合進保偏光纖形成激發模,光纖中的耦合點將部分激發模串擾至正交的耦合模傳輸,形成了激發模與耦合模的光程差,采用邁克爾遜干涉儀平衡此光程差,形成干涉;其特征在于該方法的具體解調步驟如下: 第1、將探測器所采集到的多峰分裂條紋進行周期提取; 首先對干涉條紋進行小波去噪,然后對多峰分裂...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:張紅霞任亞光賈大功劉鐵根張以謨
    申請(專利權)人:天津大學
    類型:發明
    國別省市:天津;12

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