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公開了一種測量物體的有效原子序數(shù)的方法和設(shè)備。該設(shè)備包括：射線源，產(chǎn)生第一能量的第一X射線束和第二能量的第二X射線束；切倫科夫探測器，接收透射被檢查物體的第一X射線束和第二X射線束，產(chǎn)生第一探測值和第二探測值；數(shù)據(jù)處理裝置，基于第一探測值和...該專利屬于同方威視技術(shù)股份有限公司;清華大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過同方威視技術(shù)股份有限公司;清華大學(xué)授權(quán)不得商用。