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本發明涉及一種高速微型太赫茲和吉赫茲電磁輻射片上分光計，該分光計包含具有并入單獨或多個缺陷的可調諧固態2D載流子層或準2D載流子層、到載流子層的至少第一和第二觸點。同樣該裝置包括用于在第一和第二觸點之間測量裝置響應的設備，以及用于載流子層參...
該專利屬于特拉辛斯集團公司所有，僅供學習研究參考，未經過特拉辛斯集團公司授權不得商用。

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