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本發(fā)明公開了一種串聯(lián)電容檢測方法和設(shè)備，涉及電容技術(shù)領(lǐng)域，能夠提高電容串聯(lián)應(yīng)用時(shí)的可靠性。該串聯(lián)電容檢測方法，包括：對串聯(lián)電容中的各個(gè)電容同時(shí)進(jìn)行檢測；判斷所述串聯(lián)電容中是否存在失效電容，所述失效電容為處于短路狀態(tài)、開路狀態(tài)或容值老化狀態(tài)的...該專利屬于華為技術(shù)有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過華為技術(shù)有限公司授權(quán)不得商用。