溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。

本發明公開了一種用于對RFID天線毛刺和污點缺陷執行視覺檢測的方法，包括：對攝像裝置執行標定之后，通過其與條形或背光光源的配合，對待檢測的各個RFID天線拍攝圖像；采集所拍攝的天線圖像并將其與天線模板圖像相匹配以獲得預對齊信息；根據天線模板...
該專利屬于華中科技大學所有，僅供學習研究參考，未經過華中科技大學授權不得商用。

詳細技術文檔下載地址

溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。