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本發明涉及用于使用可變質量選擇窗寬度來分析樣本的系統及方法。使用處理器指令串聯質譜儀以不同質量選擇窗寬度對樣本執行至少兩次碎片掃描。所述串聯質譜儀包括允許可變質量選擇窗寬度的質量分析器。對不同質量選擇窗寬度的選擇可基于樣本化合物的一個或一個...該專利屬于DH科技發展私人貿易有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過DH科技發展私人貿易有限公司授權不得商用。
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