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本發(fā)明公開了一種基于環(huán)形光電探測器陣列用于測量材料表面漫反射特征的測量裝置，包括準(zhǔn)直光源、旋轉(zhuǎn)臺、若干只光電探測器和信號記錄設(shè)備，若干只光電探測器布置在一只圓環(huán)固定架的架體上，起始測量線和終止測量線之間的夾角為270°；準(zhǔn)直光源設(shè)置在圓環(huán)固...該專利屬于西北核技術(shù)研究所所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過西北核技術(shù)研究所授權(quán)不得商用。