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一種直拉單晶直徑測量方法,包括利用一個CCD攝像頭獲取單晶生長圖像以及對單晶生長圖像進(jìn)行處理,CCD攝像頭的分辨率高于200萬像素,對單晶生長圖像進(jìn)行處理包括步驟:提取單晶生長固液界面處的晶體輪廓;將晶體輪廓進(jìn)行擬合,獲得橢圓邊界;將橢圓邊...該專利屬于西安隆基硅材料股份有限公司;無錫隆基硅材料有限公司;寧夏隆基硅材料有限公司;銀川隆基硅材料有限公司所有,僅供學(xué)習(xí)研究參考,未經(jīng)過西安隆基硅材料股份有限公司;無錫隆基硅材料有限公司;寧夏隆基硅材料有限公司;銀川隆基硅材料有限公司授權(quán)不得商用。