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本發明公開一種可擴展測量通道切換電路，用于對各種帶電路板的產品的生產測試中，中央處理單元CPU/MCU并聯若干個串入并出的轉換芯片D2-Dn，轉換芯片D2-Dn中的每個芯片各連接一個達林頓管的芯片，每個達林頓管的芯片分別連接繼電器K1-Kn...
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