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本發(fā)明公開了一種基于二端子阻抗測(cè)量模式的四端子電阻抗層析成像方法,屬于電學(xué)無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括如下步驟：建立電阻抗層析成像傳感器的有限元模型，計(jì)算相鄰激勵(lì)、相對(duì)激勵(lì)或者對(duì)角線激勵(lì)模式下的四端子靈敏度矩陣；繼電器雙T型多通道切換模塊...該專利屬于北京航空航天大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過北京航空航天大學(xué)授權(quán)不得商用。