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本發(fā)明提供一種利用激光回饋原理來測(cè)量透明介質(zhì)折射率的裝置。其特征在于：它以待測(cè)樣品的位移產(chǎn)生的激光回饋條紋為研究對(duì)象，待測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品具有相同楔角，在入射面垂直于激光軸線位移時(shí)，由于待測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)樣品在光路中的各自厚度發(fā)生變化，即激光外腔...該專利屬于清華大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過清華大學(xué)授權(quán)不得商用。