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本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)定荷電異質(zhì)性顆粒零凈質(zhì)子電荷點(diǎn)的方法，其特征是測(cè)定并繪制荷電異質(zhì)性顆粒在兩種不同濃度的惰性電解質(zhì)溶液中顆粒表面的ζ電位與惰性電解質(zhì)溶液pH的關(guān)系曲線，對(duì)兩條曲線的兩個(gè)交點(diǎn)之間的曲線進(jìn)行回歸分析，建立ζ~pH的回歸模型f1(...該專利屬于安徽理工大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)安徽理工大學(xué)授權(quán)不得商用。