溫馨提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。
一種基于紅外熱波技術(shù)的雙層結(jié)構(gòu)第二層介質(zhì)厚度測量方法,包括如下步驟:(1)以被測試件相同材料制作的標(biāo)準(zhǔn)試件作為參考,以脈沖紅外熱波技術(shù)作為實驗方案。(2)降溫數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化后,減去參考孔降溫數(shù)據(jù)獲得相對溫差數(shù)據(jù)。(3)相對溫差數(shù)據(jù)乘以對應(yīng)時...該專利屬于首都師范大學(xué);北京維泰凱信新技術(shù)有限公司;重慶師范大學(xué)所有,僅供學(xué)習(xí)研究參考,未經(jīng)過首都師范大學(xué);北京維泰凱信新技術(shù)有限公司;重慶師范大學(xué)授權(quán)不得商用。