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本發明涉及用于從器皿捕獲材料試樣的原位自動采樣方法與相關采樣裝置。本發明的方法利用一采樣裝置，其中所述采樣裝置具有可伸展的試樣捕獲元件（60），該元件具有位于其遠端附近的凹形試樣捕獲座口（65）。試樣捕獲座口適于在試樣捕獲元件伸入到所述材料...該專利屬于梅特勒－托利多公開股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過梅特勒－托利多公開股份有限公司授權不得商用。
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