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本發明公開了一種對GaN基器件的直流穩態功率老化進行預篩選的方法，包括：對被測GaN基器件進行封裝測試，確定被測GaN基器件的直流穩態功率；采用顯微紅外熱像儀測量器件的結溫，并對測量得到的結溫進行數學擬和得到被測GaN基器件的峰值結溫與直流...
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