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本發明提供一種透射X射線分析裝置及方法，能夠在使用TDI傳感器檢測試料的透射X射線像之際，容易且大范圍地調節TDI傳感器的累加級數。本透射X射線分析裝置（1）檢測對既定的掃描方向（L）上相對移動的試料（100）的透射X射線像進行檢測，具備：...
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