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本發明公開了一種判定半導體三極管內部偏置電阻值的測試方法，在三極管eb結上加反向電壓，反向電壓小于反向擊穿電壓，eb結上產生反向電流，把測得的三極管eb結上兩端所加電壓的差值與電流差值相比，得到第一電阻與第二電阻的和值，加大反向電壓，使反向...
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