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本發明公開了一種快速光譜儀短波校準中弱信號補償方法，屬于光學測試與計量領域。該方法在已有光譜響應度測試方法的基礎上，對快速光譜儀進行分段校準，在450nm～900nm采用遠距離光譜響應度校準方法，而在短波350nm～450nm，采用近距離校...該專利屬于中國兵器工業第二0五研究所所有，僅供學習研究參考，未經過中國兵器工業第二0五研究所授權不得商用。
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本發明公開了一種快速光譜儀短波校準中弱信號補償方法，屬于光學測試與計量領域。該方法在已有光譜響應度測試方法的基礎上，對快速光譜儀進行分段校準，在450nm～900nm采用遠距離光譜響應度校準方法，而在短波350nm～450nm，采用近距離校...