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本發明涉及一種用于測量光學雙折射媒介中偏振串擾的方法和裝置，該方法包括：將線性偏振光耦合入光學雙折射媒介中，并在其中產生一光信號；將該光信號接入一干涉儀，獲取兩正交偏振模間光干涉信號；對所獲取的光干涉信號進行處理，獲得含有雙折射色散影響的光...該專利屬于蘇州光環科技有限公司;通用光訊光電技術（北京）有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過蘇州光環科技有限公司;通用光訊光電技術（北京）有限公司授權不得商用。