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本發明涉及一種基于稀疏孔徑拼接的平面光學元件檢測方法。子所述檢測裝置包括：二維平移臺、干涉儀和標準平面透鏡，具體步驟為：將所述平面光學元件固定在二維平移臺上，干涉儀對準所述平面光學元件的位置；調節二維平移臺到達指定目標分布區域，使干涉儀出瞳...
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