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本發(fā)明涉及一種設(shè)備性能預(yù)測處理方法及裝置，其方法包括：定時從設(shè)備上采集歷史性能數(shù)據(jù)；對采集的歷史性能數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選；根據(jù)預(yù)設(shè)的性能預(yù)警門限及性能越限門限，對篩選后的歷史性能數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算，得到設(shè)備出現(xiàn)性能預(yù)警及越限的時間點(diǎn)，并預(yù)測設(shè)備的未來...該專利屬于中興通訊股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過中興通訊股份有限公司授權(quán)不得商用。