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本發明提供了一種納米級氧化膜厚度的電化學定量表征方法，該方法包括：多層薄膜樣品的制備：將待測樣品去除油污及雜質，在樣品表面鍍一層金屬薄膜；電化學實驗：用恒電位儀，將樣品作為三電極系統中的工作電極，飽和KCl甘汞電極作為參比電極，Pt作為對電...
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