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一種測量低溫光纖受激布里淵散射增益譜的裝置，其構成包括連續光纖激光器、光纖隔離器、1×2光纖分束器、雙包層光纖放大器、光纖環行器、溫度控制系統、單模光纖、2×2端口3dB分束器、帶通濾波器、光電探測器、電譜分析儀。本發明利用液氮對光纖進行溫...該專利屬于中國科學院上海光學精密機械研究所所有，僅供學習研究參考，未經過中國科學院上海光學精密機械研究所授權不得商用。
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一種測量低溫光纖受激布里淵散射增益譜的裝置，其構成包括連續光纖激光器、光纖隔離器、1×2光纖分束器、雙包層光纖放大器、光纖環行器、溫度控制系統、單模光纖、2×2端口3dB分束器、帶通濾波器、光電探測器、電譜分析儀。本發明利用液氮對光纖進行溫...