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本發明提出一種集成電路測試數據查詢系統，包括一查詢設備、一與所述查詢設備相連的測試儀陣列、一與所述測試儀陣列相連的測試機臺陣列、一與所述測試機臺陣列相連的被測器件陣列。本發明還公開了一種集成電路測試數據查詢方法。本發明解決了查詢設備和測試儀...該專利屬于成都市中州半導體科技有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過成都市中州半導體科技有限公司授權不得商用。
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