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本發明公開了一種集成電路測試系統，包括一控制設備、一與所述控制設備相連的測試儀、一與所述測試儀相連的負載板、一與所述負載板相連的自動測試機、一與所述自動測試機相連的被測器件。本發明還公開了一種集成電路測試系統的控制方法，本發明的實現，解決了...該專利屬于成都市中州半導體科技有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過成都市中州半導體科技有限公司授權不得商用。
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