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一種用于詢問光學(xué)被分析物傳感器的光學(xué)讀出器，所述光學(xué)讀出器包括殼體，所述殼體的內(nèi)部包括：至少一個(gè)光源、檢測(cè)器以及可編程邏輯裝置。所述殼體具有配準(zhǔn)特征結(jié)構(gòu)，所述配準(zhǔn)特征結(jié)構(gòu)被配置成使所述光學(xué)讀出器對(duì)準(zhǔn)光學(xué)被分析物傳感器。本發(fā)明還公開了用于確認(rèn)...該專利屬于3M創(chuàng)新有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過3M創(chuàng)新有限公司授權(quán)不得商用。