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本發(fā)明公開了一種檢測圖像中的橢圓的方法，該方法包括如下步驟：S1、計算所述圖像中各像素點的內(nèi)積能量，獲得該圖像的內(nèi)積能量分布圖，所述內(nèi)積能量反映的是任一像素點鄰域內(nèi)邊緣點關于該像素點的對稱程度；S2、在像素點的內(nèi)積能量閾值約束下，在所述內(nèi)積...該專利屬于中國科學院自動化研究所所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過中國科學院自動化研究所授權(quán)不得商用。