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本發明提供一種半導體裝置等，即使是在測試環境變動的情形下，也能更高精度地判斷半導體集成電路的動作性能。一種半導體裝置，能檢測半導體集成電路所產生的劣化，包含：測定單元，測定溫度及電壓；決定單元，在各測試動作頻率下對檢測對象電路部判別測試內容...該專利屬于國立大學法人九州工業大學;國立大學法人奈良先端科學技術大學院大學;公立大學法人首都大學東京所有，僅供學習研究參考，未經過國立大學法人九州工業大學;國立大學法人奈良先端科學技術大學院大學;公立大學法人首都大學東京授權不得商用。