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本發明涉及電路產品測試技術領域，具體為一種集成電路產品測試裝置及其方法，包括第一傳送帶、測試臺以及第二傳送帶，測試臺上安裝有檢測機體，檢測機體的下端面設置有探針，探針的下方設有底部支撐板，底部支撐板的前后兩側設有安裝板，安裝板側設有輔助傳送...
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