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本發明公開了一種多等級芯片組合分選的方法，涉及集成電路先進分選技術領域，包含以下步驟：步驟一：多等級芯片同時分選設備能力開發：軟件開發支持可以選擇多個等級芯片同時分選能力，需要在設備影像光學檢測系統具備多步驟檢測能力，將多步驟檢測的結果按照...
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