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本發明涉及電阻率CT成像技術領域，解決了孔間電阻率CT技術存在結果分辨率較低、可靠性差、測量效率低而不能滿足工程實際應用需求的技術問題，尤其涉及一種基于雙通道跨孔雷達的電阻率CT成像方法，包括以下步驟：S1、在被測區兩側分別鉆設孔1和孔2構...該專利屬于北京同度工程物探技術有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過北京同度工程物探技術有限公司授權不得商用。
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本發明涉及電阻率CT成像技術領域，解決了孔間電阻率CT技術存在結果分辨率較低、可靠性差、測量效率低而不能滿足工程實際應用需求的技術問題，尤其涉及一種基于雙通道跨孔雷達的電阻率CT成像方法，包括以下步驟：S1、在被測區兩側分別鉆設孔1和孔2構...