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本發明提供即使閾值電壓為負電位也實現正電位時同樣的測試方法的特性評價的半導體存儲裝置。本發明的半導體存儲裝置具有存儲數據的多個存儲單元，通過測試信號的輸入，進行從正常模式過渡到進行存儲單元的特性評價的測試模式，其中包括：選擇存儲單元的存儲單...
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