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本發(fā)明涉及顆粒物濃度檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供基于現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)的顆粒物濃度測(cè)量方法。包括將光散射檢測(cè)裝置、虛擬沖擊式切割器、β射線檢測(cè)裝置串接于氣路中；以β射線檢測(cè)裝置測(cè)得的顆粒物的濃度值為標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)光散射檢測(cè)裝置測(cè)得的顆粒物濃度進(jìn)行校準(zhǔn)。本發(fā)明既能在現(xiàn)...該專利屬于青島長(zhǎng)遠(yuǎn)檢測(cè)技術(shù)有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)青島長(zhǎng)遠(yuǎn)檢測(cè)技術(shù)有限公司授權(quán)不得商用。