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本發(fā)明提供了一種光學檢測設(shè)備，其可以提高檢測效率和效果。其包括檢測區(qū)，檢測區(qū)包括三個以上紅外發(fā)射器，紅外發(fā)射器呈一列排布于支架的上板，紅外發(fā)射器下方分別設(shè)置有相對應的接收器，接收器呈一列排布于支架的下板；檢測區(qū)前側(cè)設(shè)置有滑動臺，滑動臺底面安...該專利屬于無錫積捷光電材料有限公司所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過無錫積捷光電材料有限公司授權(quán)不得商用。