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本發明涉及一種應用于光學元件多表面檢測的抗振方法，該方法包括條紋圖像篩選算法、圖像相位修正算法，其特征在于，所述條紋圖像篩選算法根據圖像上若干空間點的灰度變化，分別計算各腔長產生信號的中心頻率，計算多個信號的相位分布，并根據各個信號的相位分...
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