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本發(fā)明提供了一種統(tǒng)計過程控制（Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ ?。校颍铮悖澹螅蟆 。茫铮睿簦颍铮?，ＳＰＣ）的控制規(guī)格界限的制定方法，包含下列步驟ａ）提供一個樣本群體；ｂ）從該樣本群體中，以拔靴重抽樣（Ｂｏｏｔｓｔｒａｐ ?。遥澹螅幔恚穑欤椋睿纾┓绞?..該專利屬于力晶半導體股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經(jīng)過力晶半導體股份有限公司授權(quán)不得商用。