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本發(fā)明為測(cè)量低能β輻射體之輻射活性的方法，從標(biāo)準(zhǔn)樣品的計(jì)數(shù)效率和被測(cè)樣品的計(jì)數(shù)率間之關(guān)系導(dǎo)出回歸式，經(jīng)過種種校正，使以住之自動(dòng)效率跟蹤法難于測(cè)量低能β輻射體洗性的缺點(diǎn)獲得解決，達(dá)到可能測(cè)量的新方法。...該專利屬于日本科學(xué)株式會(huì)社所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過日本科學(xué)株式會(huì)社授權(quán)不得商用。