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用于減少老化測試期間的溫度差異的系統和方法。在一種實施方式中，測量待測試集成電路所消耗的功率。測量與該集成電路相關聯的環境溫度。通過調整該集成電路的體偏置電壓，實現該集成電路的理想結溫。通過控制各個集成電路的溫度，能夠減少老化測試期間的溫度...
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