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本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試方法及裝置。其中，該方法包括：測(cè)試單元分別對(duì)第一被測(cè)單元以及與第一被測(cè)單元關(guān)聯(lián)的第二被測(cè)單元執(zhí)行測(cè)試環(huán)境初始化操作；測(cè)試單元向第一被測(cè)單元發(fā)送第一待執(zhí)行測(cè)試信息，并接收第一被測(cè)單元返回的第一測(cè)試結(jié)果；測(cè)試單元經(jīng)由第一被測(cè)...該專利屬于網(wǎng)易（杭州）網(wǎng)絡(luò)有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)網(wǎng)易（杭州）網(wǎng)絡(luò)有限公司授權(quán)不得商用。