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本實(shí)用新型涉及一種絕緣子密封性檢測(cè)系統(tǒng)，包括絕緣子和紫外光源，所述絕緣子的空腔內(nèi)通有帶有熒光粉微小顆粒的空氣，所述熒光粉顆粒均勻分散在空氣中，熒光粉顆粒粒徑為0.2～2.0μm；所述紫外光源分布在絕緣子外圍，所述絕緣子一端封閉，另一端設(shè)有進(jìn)...該專利屬于浙江工商大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過(guò)浙江工商大學(xué)授權(quán)不得商用。