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本發明提供了一種高譜分辨與寬譜測量范圍的透射光柵譜儀，所述的透射光柵譜儀包括入射狹縫、透射光柵、條紋相機以及與條紋相機相匹配的光陰極狹縫和光陰極；物體發出的X射線通過入射狹縫，經透射光柵色散，形成兩個分辨率不同的光譜，兩光譜在空間上錯位，經...該專利屬于中國工程物理研究院激光聚變研究中心所有，僅供學習研究參考，未經過中國工程物理研究院激光聚變研究中心授權不得商用。
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本發明提供了一種高譜分辨與寬譜測量范圍的透射光柵譜儀，所述的透射光柵譜儀包括入射狹縫、透射光柵、條紋相機以及與條紋相機相匹配的光陰極狹縫和光陰極；物體發出的X射線通過入射狹縫，經透射光柵色散，形成兩個分辨率不同的光譜，兩光譜在空間上錯位，經...